idw – Informationsdienst Wissenschaft
Nachrichten, Termine, Experten
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Die folgenden Methoden stehen im Fokus der praxisnahen Vorträge:
• Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
• Raster-Augerelektronenmikroskopie (SAM)
• Rasterkraft-/Rastersondenmikroskopie (AFM/SPM)
• Transmissions- und Rastertransmissionselektronenmikroskopie (TEM/STEM), einschließlich EELS/EDX
• Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
Eine Führung durch das DFG-Gerätezentrum ICAN mit Demonstrationen sowie Beratungen zu individuellen Fragestellungen runden den Workshop ab.
ICAN ist eine Einrichtung des Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE) zur Charakterisierung von Oberflächen und Nanomaterialien. Es bündelt Geräte, Methoden und fachliche Kompetenz zur Analytik auf der Nanometerskala und stellt diese internen und externen Nutzern innerhalb von Kooperationen sowie als Dienstleistung zur Verfügung. Den Mittelpunkt bildet ein hochmodernes Mikroskopiezentrum mit fünf zueinander komplementären Großgeräten.
Weitere Informationen:
Prof. Dr. Nils Hartmann, ICAN, 0203 379.8033, nils.hartmann@uni-due.de
Hinweise zur Teilnahme:
Termin:
17.11.2016 - 18.11.2016
Anmeldeschluss:
11.11.2016
Veranstaltungsort:
NETZ
Carl-Benz-Str. 199
47047 Duisburg
Nordrhein-Westfalen
Deutschland
Zielgruppe:
Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Chemie, Elektrotechnik, Energie, Physik / Astronomie, Werkstoffwissenschaften
Arten:
Seminar / Workshop / Diskussion
Eintrag:
20.10.2016
Absender:
Ulrike Bohnsack
Abteilung:
Ressort Presse - Stabsstelle des Rektorats
Veranstaltung ist kostenlos:
nein
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event55748
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