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Event



12/04/2006 - 12/05/2006 | Kaiserslautern

Schicht- und Oberflächenanalytik

Innere und äußere Grenzflächen und -zonen spielen in der Oberflächentechnik aber auch für viele andere Technologiebereiche eine wichtige, häufig die entscheidende Rolle. Für Produktentwicklung, Fehlersuche, Prozess- und Qualitätssicherung oder die Optimierung von technologischen Prozessen sind deshalb moderne Methoden der instrumentellen Oberflächen- und Schichtanalytik zu unverzichtbaren Werkzeugen geworden.

Das Fortbildungsseminar will mit den physikalischen und instrumentellen Grundlagen der Mikro- und Nanobereichsanalyse vertraut machen. Anhand von Beispielen aus der analytischen Praxis werden die Vorteile und der Nutzen aufgezeigt, den Unternehmen aus der Anwendung oberflächenanalytischer Methoden ziehen können. Die Teilnehmer werden über den aktuellen Stand und die Leistungsfähigkeit der wichtigsten Oberflächenanalysetechniken informiert. Es wird das notwendige Wissen vermittelt, um selbst die Methoden auswählen und bewerten zu können, die zur Beantwortung von analytischen Fragestellungen aus dem eigenen Unternehmen geeignet sind. Die Veranstaltung wendet sich an Ingenieure und Techniker, die in der Fertigung, in der Prozess- und Qualitätskontrolle sowie in der Material- und Produktentwicklung tätig sind.

Montag, 4. Dezember 2006

9:45 M. Kopnarski
Begrüßung der Teilnehmer und Programmbesprechung

10:00 M. Kopnarski
Grundlagen der Oberflächen- und Schichtanalytik
Physikalische Grundlagen, Übersicht zu Verfahren und Problemen der modernen Oberflächenanalyse

10:45 Kaffeepause

11:00 R. Merz
Oberflächenanalyse mit elektronenspektroskopischen Verfahren
Augerelektronen- und Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Anwendungen in Mikroelektronik, Katalyse, Metallurgie und Polymertechnik

11:45 W. Bock
Tiefenprofilanalyse mit massenspektrometrischen Methoden
Sekundärionen- und Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie, Dünne Schichten, Grenzflächenanalyse

12:30 Mittagspause

14:30 B. Reuscher und A. Brodyanski
Mikro- und Nanobereichsanalyse mit der Elektronenmikroskopie
Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie, chemische und strukturelle Mikro- und Nanobereichsanalyse, Probenpräparationstechniken

15:30 A. Brodyanski
Molekülspektroskopie an Oberflächen
Infrarot- und Ramanspektroskopie, Nah- und Fernordnung, chemische und strukturelle Zusammensetzung, Identifizieren von Partikeln und Fremd-Substanzen

16:00 Kaffeepause

16:15 J. Lösch
Röntgenografische Analyse dünner Schichten
Phasenanalyse, Glancing Angle XRD, Textur- und Eigenspannungsmessungen, Schichtdickenbestimmung

17:00 M. Kutschera
Rastersondentechniken in der modernen Materialentwicklung
Rasterkraftmikroskopie, Nanoindentation, Materialkontrast und Nanomechanik auf Polymeren, Lacken und Haftklebern

19:30 Gemeinsames Abendessen und geselliges Beisammensein

Dienstag, 5. Dezember 2006

9:15 M. Wahl
Oberflächenanalytik für die Plasmatechnik
Flugzeitmassenspektrometrie, Imaging, spezifischer Nachweis von Verbindungen, Spektreninterpretation, multivariate Datenanalyse, funktionale Oberflächen

10:00 M. Scherge
Analytische Fragestellungen aus der Tribologie
Charakterisierung des oberflächennahen Volumens, Tiefenprofile, Analyse der Kristallgitterstruktur (FIB), dissipative Strukturen durch Reibung und Verschleiß

10:45 Kaffeepause

11:00 U. Rothhaar
Oberflächen- und Schichtanalytik in der Glasindustrie
Charakterisierung von Glas und dünnen Schichten mit SEM/EDX, SIMS, WLI, AFM, XRD u.a. Methoden

11:45 C. Ziegler
Oberflächen- und Grenzflächenanalyse von Biomaterialien
Rasterkraftmikroskopie, Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Elektronenmikroskopie mit energie-dispersiver Röntgenanalyse, statische und dynamische Kontaktwinkelmessungen, Charakterisierung von Dentalwerkstoffen, Biokompatibilität

12:30 Mittagspause

14:30 P. Albers
Oberflächenanalytische Charakterisierung von Rußen
Neutronenspektroskopie, Oberflächenchemie und Morphologie von Rußaggregaten

15:15 S. Emrich
Angewandte Oberflächenanalytik in der Klebtechnik
Adhäsion, Vorbehandlung, Langzeitverhalten von Klebverbindungen

16:00 Abschlussdiskussion

Anschließend besteht die Möglichkeit einer Besichtigung des Instituts für Oberflächen- und Schichtanalytik.

Information on participating / attending:
Teilnahmegebühr:
1.070,- EURO

Teilnahmegebühr für DGM-Mitglieder:
Persönliche DGM-Mitglieder bzw. 1 Mitarbeiter eines DGM-Mitgliedsinstitutes / DGM-Mitgliedsunternehmens: 970,- EURO

In der Teilnahmegebühr sind enthalten:
? Seminarunterlagen
? Pausengetränke
? Mittagessen (MwSt.-pflichtig)
? ein gemeinsames Abendessen (MwSt.-pflichtig)

Eine Stornierungsgebühr in Höhe von 25% der Teilnahmegebühr wird in Rechnung gestellt, wenn ein angemeldeter Teilnehmer bis 40 Tage vor Veranstaltungsbeginn verhindert ist, an der Veranstaltung teilzunehmen. Danach beträgt die Stornierungsgebühr 50% der Teilnahmegebühr. Die Stornierung muss 10 Tage vor Veranstaltungsbeginn vorliegen, anderenfalls wird die volle Teilnahmegebühr erhoben. Ersatzteilnehmer können jederzeit benannt werden.

Das Fortbildungsseminar findet an der Universität Kaiserslautern im Gebäude 57 (Rotunde), Erwin-Schrödinger-Straße, 67663 Kaiserslautern statt.

Da der Teilnehmerkreis des Seminars begrenzt ist, erfolgt die Registrierung nach dem Eingangsdatum der Anmeldung. Die Teilnahmegebühr bitten wir erst nach Erhalt der Bestätigung unter Angabe des Namens des Teilnehmers und der kompletten Rechnungsnummer auf eines der DGM-Konten zu überweisen.

Informationen zur Zimmerbestellung erhalten Sie mit den Bestätigungsunterlagen.

Date:

12/04/2006 09:45 - 12/05/2006 16:00

Event venue:

Das Fortbildungsseminar findet an der Universität Kaiserslautern im Gebäude 57 (Rotunde), Erwin-Schrödinger-Straße, 67663 Kaiserslautern statt.
67663 Kaiserslautern
Rheinland-Pfalz
Germany

Target group:

Scientists and scholars, Students

Email address:

Relevance:

transregional, national

Subject areas:

Construction / architecture, Electrical engineering, Energy, Materials sciences, Mathematics, Mechanical engineering, Physics / astronomy

Types of events:

Entry:

08/22/2006

Sender/author:

Dr. Peter Paul Schepp

Department:

Kommunikation & Medien

Event is free:

no

Language of the text:

German

URL of this event: http://idw-online.de/en/event17891


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