Programm
10:30 Uhr Begrüßung
G. Spiecker (Coherent GmbH, Sprecher des Arbeitskreises)
Prof. Dr. Klaus Dickmann (LFM)
10:40 Uhr Vorstellung der Aktivitäten im Laserzentrum Fachhochschule Münster (LFM)
Prof. Dr. Klaus Dickmann (LFM)
11:00 Uhr Chemische Charakterisierung von Oberflächen mit Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) und Low Energy Ion Scattering LEIS)
Sven Kayser (ION-TOF GmbH, Münster)
11:40 Uhr Detektion von Schichten mittels LIBS-Technik
Jens Hildenhagen (LFM)
12:00 Uhr Mittagspause (Imbiss)
12:45 Uhr Besichtigung LFM
13:30 Uhr VUV-Lichtquellen für die Spurenanalytik
Dr. A. Görtler Coherent GmbH, München
13:50 Uhr Einzelmolekülaufgelöste Analytik an Biologischen Oberflächen
Dr. Jörg Eisfeld (Ionovation GmbH, Osnabrück)
14:10 Uhr Optisch-funktionale Oberflächen durch Laserstrukturierung
Dr. Martin Wehner (Fraunhofer-ILT, Aachen)
14:30 Uhr Hochleistungslaser für die Oberflächenreinigung und Entschichtung
Dr. Uwe Stute (TRUMPF Laser GmbH + Co. KG, Schramberg)
ca. 15:00 Uhr Ende der Veranstaltung
Information on participating / attending:
Bitte möglichst zeitnah anmelden!
Ein Faxformular finden Sie unter angegebenem Link
Date:
02/12/2008 10:30 - 02/12/2008 15:00
Event venue:
Laserzentrum Fachhochschule Münster (LFM)
Stegerwaldstr. 39
48565 Steinfurt (Ortsteil: Burgsteinfurt)
Niedersachsen
Germany
Target group:
Business and commerce, Scientists and scholars
Email address:
Relevance:
transregional, national
Subject areas:
Materials sciences, Mathematics, Mechanical engineering, Physics / astronomy
Types of events:
Entry:
01/29/2008
Sender/author:
Dipl. Biol. Anja Nieselt-Achilles
Department:
Marketing und Kommunikation
Event is free:
yes
Language of the text:
German
URL of this event: http://idw-online.de/en/event22527
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