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Nachrichten, Termine, Experten
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Fortbildungsleitung:
Prof. Dr.-Ing. Frank Mücklich - Saarland University
Themen und Inhalte:
Neben dem Routineeinsatz der Lichtmikroskopie ist eine entscheidende Entwicklung auf diesem Gebiet die Kombination der etablierten Kontraste der Rasterelektronenmikroskopie (REM) mit dem fokussierten Ionenstrahl (FIB). Diese ermöglicht eine extrem sensitive Analyse bei gleichzeitig genauer Zielpräparation.
Die Weiterbildung beginnt mit einer kurzen Einführung in die Grundlagen der digitalen Bildanalyse in 2D und deren sinnvollen Übertragung in 3D-Informationen. Neben den unterschiedlichen Abbildungsverfahren vom Lichtmikroskop über die Elektronenmikroskopie bis hin zur Atomsonde in 2D und 3D werden insbesondere die Verarbeitung der erhaltenen Daten von der klassischen Bildverarbeitung über die quantitative Gefügeanalyse behandelt. Abschließend werden die Möglichkeiten der Klassifizierung mittels Methoden des maschinellen Lernens vorgestellt und Best-Practice Beispiele präsentiert. Abgerundet wird die Weiterbildung mit vielen praktischen Beispielen und Demonstrationspraktika mit interaktiven Modulen zur direkten Anwendung und Umsetzung der vorgestellten Inhalte.
Zielgruppe:
Diese Fortbildung richtet sich an alle Anwender*innen der Gefügeanalyse in Qualitätskontrolle und Werkstoffentwicklung. Vorausgesetzt werden Grundkenntnisse der Werkstoffkunde. Alle methodischen Grundlagen der Gefügeanalyse werden erarbeitet und praxisorientiert vermittelt.
Information on participating / attending:
Ca. eine Woche vor der Veranstaltung wird es eine kurze Test- und Informationsveranstaltung für die Teilnehmenden geben. Der Termin wird den Teilnehmenden rechtzeitig per Mail mitgeteilt.
Der erste Tag der Veranstaltung soll ein einheitliches Verständnis der Teilnehmenden für die Thematik schaffen. Wer sich sehr sicher rund um die Themen REM (Rasterelektronenmikroskopie) und FIB (Focused-Ion-Beam) sowie der Bildverarbeitungstechnik ImageJ und Fiji gut auskennt, kann auch erst zum zweiten Tag mit der Fortbildung starten. Dies wird jedoch ausdrücklich nicht empfohlen.
Die Fortbildung findet als Online-Veranstaltung statt. Die registrierten Teilnehmenden erhalten einige Tage vor der Veranstaltung den Zugangslink zur Fortbildung per Mail.
In den Teilnahmegebühren sind Fortbildungsunterlagen enthalten, die die registrierten Teilnehmenden einige Tage vor der Veranstaltung erhalten.
Date:
10/17/2022 - 10/21/2022
Registration deadline:
10/14/2022
Event venue:
DGM - Online - Fortbildung
St. Augustin
Nordrhein-Westfalen
Germany
Target group:
Business and commerce, Scientists and scholars
Email address:
Relevance:
transregional, national
Subject areas:
Information technology, Materials sciences
Types of events:
Presentation / colloquium / lecture, Seminar / workshop / discussion
Entry:
03/08/2022
Sender/author:
Stefan Klein
Department:
Kommunikation & Medien
Event is free:
no
Language of the text:
German
URL of this event: http://idw-online.de/en/event70954
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