idw – Informationsdienst Wissenschaft
Nachrichten, Termine, Experten
Nachrichten, Termine, Experten
Montag, 4. Dezember 2006
9:45 M. Kopnarski
Begrüßung der Teilnehmer und Programmbesprechung
10:00 M. Kopnarski
Grundlagen der Oberflächen- und Schichtanalytik
Physikalische Grundlagen, Übersicht zu Verfahren und Problemen der modernen Oberflächenanalyse
10:45 Kaffeepause
11:00 R. Merz
Oberflächenanalyse mit elektronenspektroskopischen Verfahren
Augerelektronen- und Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Anwendungen in Mikroelektronik, Katalyse, Metallurgie und Polymertechnik
11:45 W. Bock
Tiefenprofilanalyse mit massenspektrometrischen Methoden
Sekundärionen- und Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie, Dünne Schichten, Grenzflächenanalyse
12:30 Mittagspause
14:30 B. Reuscher und A. Brodyanski
Mikro- und Nanobereichsanalyse mit der Elektronenmikroskopie
Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie, chemische und strukturelle Mikro- und Nanobereichsanalyse, Probenpräparationstechniken
15:30 A. Brodyanski
Molekülspektroskopie an Oberflächen
Infrarot- und Ramanspektroskopie, Nah- und Fernordnung, chemische und strukturelle Zusammensetzung, Identifizieren von Partikeln und Fremd-Substanzen
16:00 Kaffeepause
16:15 J. Lösch
Röntgenografische Analyse dünner Schichten
Phasenanalyse, Glancing Angle XRD, Textur- und Eigenspannungsmessungen, Schichtdickenbestimmung
17:00 M. Kutschera
Rastersondentechniken in der modernen Materialentwicklung
Rasterkraftmikroskopie, Nanoindentation, Materialkontrast und Nanomechanik auf Polymeren, Lacken und Haftklebern
19:30 Gemeinsames Abendessen und geselliges Beisammensein
Dienstag, 5. Dezember 2006
9:15 M. Wahl
Oberflächenanalytik für die Plasmatechnik
Flugzeitmassenspektrometrie, Imaging, spezifischer Nachweis von Verbindungen, Spektreninterpretation, multivariate Datenanalyse, funktionale Oberflächen
10:00 M. Scherge
Analytische Fragestellungen aus der Tribologie
Charakterisierung des oberflächennahen Volumens, Tiefenprofile, Analyse der Kristallgitterstruktur (FIB), dissipative Strukturen durch Reibung und Verschleiß
10:45 Kaffeepause
11:00 U. Rothhaar
Oberflächen- und Schichtanalytik in der Glasindustrie
Charakterisierung von Glas und dünnen Schichten mit SEM/EDX, SIMS, WLI, AFM, XRD u.a. Methoden
11:45 C. Ziegler
Oberflächen- und Grenzflächenanalyse von Biomaterialien
Rasterkraftmikroskopie, Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Elektronenmikroskopie mit energie-dispersiver Röntgenanalyse, statische und dynamische Kontaktwinkelmessungen, Charakterisierung von Dentalwerkstoffen, Biokompatibilität
12:30 Mittagspause
14:30 P. Albers
Oberflächenanalytische Charakterisierung von Rußen
Neutronenspektroskopie, Oberflächenchemie und Morphologie von Rußaggregaten
15:15 S. Emrich
Angewandte Oberflächenanalytik in der Klebtechnik
Adhäsion, Vorbehandlung, Langzeitverhalten von Klebverbindungen
16:00 Abschlussdiskussion
Anschließend besteht die Möglichkeit einer Besichtigung des Instituts für Oberflächen- und Schichtanalytik.
Hinweise zur Teilnahme:
Teilnahmegebühr:
1.070,- EURO
Teilnahmegebühr für DGM-Mitglieder:
Persönliche DGM-Mitglieder bzw. 1 Mitarbeiter eines DGM-Mitgliedsinstitutes / DGM-Mitgliedsunternehmens: 970,- EURO
In der Teilnahmegebühr sind enthalten:
? Seminarunterlagen
? Pausengetränke
? Mittagessen (MwSt.-pflichtig)
? ein gemeinsames Abendessen (MwSt.-pflichtig)
Eine Stornierungsgebühr in Höhe von 25% der Teilnahmegebühr wird in Rechnung gestellt, wenn ein angemeldeter Teilnehmer bis 40 Tage vor Veranstaltungsbeginn verhindert ist, an der Veranstaltung teilzunehmen. Danach beträgt die Stornierungsgebühr 50% der Teilnahmegebühr. Die Stornierung muss 10 Tage vor Veranstaltungsbeginn vorliegen, anderenfalls wird die volle Teilnahmegebühr erhoben. Ersatzteilnehmer können jederzeit benannt werden.
Das Fortbildungsseminar findet an der Universität Kaiserslautern im Gebäude 57 (Rotunde), Erwin-Schrödinger-Straße, 67663 Kaiserslautern statt.
Da der Teilnehmerkreis des Seminars begrenzt ist, erfolgt die Registrierung nach dem Eingangsdatum der Anmeldung. Die Teilnahmegebühr bitten wir erst nach Erhalt der Bestätigung unter Angabe des Namens des Teilnehmers und der kompletten Rechnungsnummer auf eines der DGM-Konten zu überweisen.
Informationen zur Zimmerbestellung erhalten Sie mit den Bestätigungsunterlagen.
Termin:
04.12.2006 ab 09:45 - 05.12.2006 16:00
Veranstaltungsort:
Das Fortbildungsseminar findet an der Universität Kaiserslautern im Gebäude 57 (Rotunde), Erwin-Schrödinger-Straße, 67663 Kaiserslautern statt.
67663 Kaiserslautern
Rheinland-Pfalz
Deutschland
Zielgruppe:
Studierende, Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Bauwesen / Architektur, Elektrotechnik, Energie, Maschinenbau, Mathematik, Physik / Astronomie, Werkstoffwissenschaften
Arten:
Eintrag:
22.08.2006
Absender:
Dr. Peter Paul Schepp
Abteilung:
Kommunikation & Medien
Veranstaltung ist kostenlos:
nein
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event17891
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