Die chronologische Entwicklung des Q-Wesens sowie die Inhalte einer umfassenden Qualitätssicherung werden beschrieben. Ausgewählte Werkzeuge der Qualitätssicherung werden am Produktentstehungszyklus dargestellt. Ferner wird auf die Zertifizierung und Akkreditierung sowie den Aufbau von QM-Systemen eingegangen. Weitere Inhalte sind Qualitätskosten und Haftungsfragen. Im Bereich Messtechnik werden verschiedene Verfahren zur Untersuchung von Mikrostrukturen erläutert und demonstriert. Als optisches Verfahren wird die Weißlichtinterferometrie vorgestellt und als mechanisches Verfahren die Rasterkraftmikroskopie. Daneben werden Messungen mit dem Tastschnittgerät durchgeführt.
Hinweise zur Teilnahme:
Referenten:
Dipl.-Phys. Holger Gerdes, Institut für Mikrotechnologie,
Leibniz Universität Hannover
Dr. Reg. Dir. Dr.-Ing. Andreas Kinzel, Materialprüfanstalt
für Werkstoffe und Produktionstechnik, Hannover
Kosten:
Teilnahmegebühr € 320,- (zzgl. ges. MwSt.)
In den Teilnahmegebühren sind enthalten:
Vortragsunterlagen
Kaffee, Getränke und Mittagsimbiss
Teilnahmebescheinigung
Termin:
26.04.2007 09:00 - 17:00
Veranstaltungsort:
Leibniz Universität Hannover
Institut für Mikrotechnologie
An der Universität 2
30823 Garbsen
Niedersachsen
Deutschland
Zielgruppe:
Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Informationstechnik, Maschinenbau, Mathematik, Physik / Astronomie, Verkehr / Transport, Werkstoffwissenschaften
Arten:
Eintrag:
02.03.2007
Absender:
Dipl. Biol. Anja Nieselt-Achilles
Abteilung:
Marketing und Kommunikation
Veranstaltung ist kostenlos:
nein
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event19697
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