idw – Informationsdienst Wissenschaft
Nachrichten, Termine, Experten
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Programm
10:30 Uhr Begrüßung
G. Spiecker (Coherent GmbH, Sprecher des Arbeitskreises)
Prof. Dr. Klaus Dickmann (LFM)
10:40 Uhr Vorstellung der Aktivitäten im Laserzentrum Fachhochschule Münster (LFM)
Prof. Dr. Klaus Dickmann (LFM)
11:00 Uhr Chemische Charakterisierung von Oberflächen mit Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) und Low Energy Ion Scattering LEIS)
Sven Kayser (ION-TOF GmbH, Münster)
11:40 Uhr Detektion von Schichten mittels LIBS-Technik
Jens Hildenhagen (LFM)
12:00 Uhr Mittagspause (Imbiss)
12:45 Uhr Besichtigung LFM
13:30 Uhr VUV-Lichtquellen für die Spurenanalytik
Dr. A. Görtler Coherent GmbH, München
13:50 Uhr Einzelmolekülaufgelöste Analytik an Biologischen Oberflächen
Dr. Jörg Eisfeld (Ionovation GmbH, Osnabrück)
14:10 Uhr Optisch-funktionale Oberflächen durch Laserstrukturierung
Dr. Martin Wehner (Fraunhofer-ILT, Aachen)
14:30 Uhr Hochleistungslaser für die Oberflächenreinigung und Entschichtung
Dr. Uwe Stute (TRUMPF Laser GmbH + Co. KG, Schramberg)
ca. 15:00 Uhr Ende der Veranstaltung
Hinweise zur Teilnahme:
Bitte möglichst zeitnah anmelden!
Ein Faxformular finden Sie unter angegebenem Link
Termin:
12.02.2008 10:30 - 15:00
Veranstaltungsort:
Laserzentrum Fachhochschule Münster (LFM)
Stegerwaldstr. 39
48565 Steinfurt (Ortsteil: Burgsteinfurt)
Niedersachsen
Deutschland
Zielgruppe:
Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Maschinenbau, Mathematik, Physik / Astronomie, Werkstoffwissenschaften
Arten:
Eintrag:
29.01.2008
Absender:
Dipl. Biol. Anja Nieselt-Achilles
Abteilung:
Marketing und Kommunikation
Veranstaltung ist kostenlos:
ja
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event22527
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