Die 3D-Gestalt der Mikro- und Nanostruktur und die auftretenden Defekte bestimmen wesentlich die Eigenschaften und Funktionen eines modernen Werkstoffes. Daher liegt der Hauptfokus der Forschungs- und Entwicklungsarbeit auf der direkten Beeinflussung der Struktur eines Werkstoffes sowie dessen maßgeschneiderter Gestaltung in immer engeren Toleranzgrenzen. Dadurch bedingt sind kleinste Abweichungen kritisch für das Werkstoffverhalten und müssen mit hoher Nachweisgenauigkeit detektiert werden. Insbesondere die Kombination verschiedener Charakterisierungsmethoden führte zu einem verbesserten Verständnis des Zusammenspiels von Struktur, Gefüge und Eigenschaften.
Eine neuere Entwicklung auf diesem Gebiet ist die Kombination der Rasterelektronenmikroskopie mit der Focused Ion Beam (FIB) Technik in einer sogenannten Dual Beam Workstation. Diese ermöglicht sowohl eine genaue Zielpräparation als auch eine Strukturierung des Werkstoffs mit Hilfe des fokussierten Ionenstrahls. Dabei können Strukturgrößen < 100 nm erzielt werden. Die Methode ist für praktisch alle modernen metallischen, keramischen und polymeren bis hin zu biologischen Werkstoffen im Mikro- und Nano-Maßstab geeignet.
Hinweise zur Teilnahme:
Das Programm und weitere Informationen zur Veranstaltung sind auf der Website http://www.dgm.de/fortbildung/?tgnr=931 veröffentlicht.
Termin:
11.10.2010 - 13.10.2010
Veranstaltungsort:
Universität des Saarlandes
Fachbereich Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
Lehrstuhl Funktionswerkstoffe
Campus D3 3
66123 Saarbrücken
Saarland
Deutschland
Zielgruppe:
Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Elektrotechnik, Energie, Maschinenbau, Werkstoffwissenschaften
Arten:
Eintrag:
05.10.2010
Absender:
Petra von der Bey
Abteilung:
Pressereferat
Veranstaltung ist kostenlos:
nein
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event32796
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