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The atomic force microscope (AFM) has become a standard and wide spread instrument for characterizing nanoscale devices and can be found in most of today’s research and development areas. The NanoBits project provides exchangeable and customizable scanning probe tips that can be attached to standard AFM cantilevers offering an unprecedented freedom in adapting the shape and size of the tips to the surface topology of the specific application.
NanoBits themselves are 2‐4 um long and 120‐150 nm thin flakes of heterogeneous materials fabricated in different approaches. These novel tips will allow for characterizing three dimensional high‐aspect ratio and sidewall structures of critical dimensions such as nanooptical photonic components and semiconductor architectures which is a bottle‐neck in reaching more efficient manufacturing techniques. It is thus an enabling approach for almost all future nanoscale applications.
As the project is in its final stage, it will be presented to an interested public. All six European partners will present the results and the participants are then available for discussion.
Schedule:
14:30 h
Welcome of Participants; Networking
14.45 h
Overview: The NanoBits project
Dr. Albert Sill
OFFIS e.V., Germany
15.15 h
Cantilever Development for Exchangeable and Customizable Scanning Probe Tips for 3‐D AFM
Dr. Oliver Krause
NanoWorld Services GmbH,Germany
15.45 h BREAK
16.00 h
Design and Fabrication of NanoBits
Dr. Alexey Savenko
DTU Nanotech, Denmark
16.30 h
Assembly of NanoBits;3D Scanning Modes
Malte Bartenwerfer
OFFIS e. V., Germany
17.00 h BREAK
17.15 h
Tip‐Enhanced Raman Spectroscopy with NanoBits: New Opportunities for Materials Characterization atthe Nanoscale
Dr. Victor LeNader
EMPA, Switzerland
17.45 h
High Performance Optical Micro andNanostructures
Maria Oliva
Fraunhofer IOF, Germany
18.15 h END
Hinweise zur Teilnahme:
Termin:
18.06.2013 14:30 - 18:30
Veranstaltungsort:
Hotel Diagonal Zero
Conference Room Africa
Plaza Llevant, s/n,
08019 Barcelona
Spanien
Zielgruppe:
Journalisten, Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
international
Sachgebiete:
Elektrotechnik, Informationstechnik, Maschinenbau, Werkstoffwissenschaften
Arten:
Seminar / Workshop / Diskussion
Eintrag:
17.05.2013
Absender:
Ann-Kathrin Sobeck
Abteilung:
Marketing und Kommunikation
Veranstaltung ist kostenlos:
nein
Textsprache:
Englisch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event43695
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