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Nachrichten, Termine, Experten
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Mit den internationalen Normen IEC 61508 und IEC 61511 gewinnen Probabilistik und Deterministik stärkere Bedeutung in der Verfahrenstechnik und der Prozessleittechnik. Dem jeweils abzudeckenden Risiko werden Safety Integrety Level (SIL) zugeordnet, die mit quantitativen Anforderungen bezüglich gefährlicher Fehler (PFD, Lambda DU, λDU) verknüpft sind.
Für Feldgeräte (Sensoren, Aktoren) in Anlagen der Chemischen Industrie sind zuverlässige Fehlerraten wegen der unterschiedlichen Applikationen nur schwer zu ermitteln.
Stördatenerfassung und Stördatenauswertung, die NAMUR weit betrieben werden, helfen dabei. Bei Einsatz betriebsbewährter Geräte findet man in der VDI/VDE Richtlinie 2180 Musterrechnungen. Typicals für die Konfiguration einer PLT-Sicherheitseinrichtung (früher PLT-Schutzeinrichtung) und eine Standardgeräteliste runden das Bild ab.
Nutzt man diese Werkzeuge, so wird ein rechnerischer SIL-Nachweis leicht gemacht. Wie man all das in die Praxis umsetzt, wird in diesem Seminar anhand einer Demonstrationsanlage, durch Anwendungsbeispiele und in Gruppenarbeit vermittelt.
Die Grundlagen zu dieser Thematik werden in dem DECHEMA-Weiterbildungskurs „Funktionale Sicherheit - Anlagensicherheit und Prozessleittechnik (PLT)“, Grundlagen vermittelt.
Desweiteren sei auf den SIL-Tag verwiesen, bei dem Spezialthemen zu diesem Gebiet behandelt werden.
Hinweise zur Teilnahme:
Termin:
05.07.2016 - 06.07.2016
Veranstaltungsort:
DECHEMA-Haus
Theodor-Heuss-Allee 25
60486 Frankfurt
Hessen
Deutschland
Zielgruppe:
Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Chemie, Maschinenbau
Arten:
Seminar / Workshop / Diskussion
Eintrag:
09.04.2016
Absender:
Dr. Kathrin Rübberdt
Abteilung:
Öffentlichkeitsarbeit
Veranstaltung ist kostenlos:
nein
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event53948
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