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20.03.2023 12:41

Manipulationen in Mikrochips aufspüren

Dr. Julia Weiler Dezernat Hochschulkommunikation
Ruhr-Universität Bochum

    Sicherheitslücken können sich nicht nur in Software, sondern auch direkt in der Hardware befinden. Angreifer könnten sie dort absichtlich einbauen lassen, um technische Anwendungen in großem Stil zu attackieren. Wie sich solche sogenannten Hardware-Trojaner aufspüren lassen, untersuchen Forscher der Ruhr-Universität Bochum und des Max-Planck-Instituts für Sicherheit und Privatsphäre (MPI-SP) in Bochum. Sie verglichen Baupläne für Chips mit elektronenmikroskopischen Bildern von echten Chips und ließen einen Algorithmus nach Unterschieden suchen. Auf diese Weise konnten sie Abweichungen in 37 von 40 Fällen detektieren.

    Das Team des Exzellenzclusters CASA, kurz für Cyber Security in the Age of Large-Scale Adversaries, um Dr. Steffen Becker und das Team des MPI-SP um Endres Puschner berichtet über die Ergebnisse auf dem IEEE Symposium on Security and Privacy, das vom 22. bis 25. Mai 2023 in San Francisco stattfindet. Die Forschung erfolgte in Zusammenarbeit mit Thorben Moos von der Université catholique de Louvain (Belgien) und dem Bundeskriminalamt in Deutschland.

    Die Forscher stellten alle Aufnahmen der Chips, die Designdaten sowie die Analysealgorithmen frei verfügbar im Internet bereit, damit andere Forschungsgruppen mit dem Material weiterarbeiten können (https://github.com/emsec/ChipSuite).

    Fertigungsfabriken als Einfallstor für Hardware-Trojaner

    Elektronische Chips sind heute in zahllosen Objekten verbaut. In der Regel werden sie von Designhäusern entworfen, die keine eigene Produktion besitzen. Die Baupläne wandern daher zwecks Fertigung zu hochspezialisierten Chipfabriken. „Es ist denkbar, dass in den Fabriken kurz vor der Produktion kleinste Veränderungen in die Designs eingefügt werden, die die Sicherheit der Chips außer Kraft setzen können“, erklärt Steffen Becker und gibt ein Beispiel für mögliche Konsequenzen. „Durch einen solchen Hardware-Trojaner könnte ein Angreifer im Extremfall auf Knopfdruck Teile der Telekommunikations-Infrastruktur lahmlegen.“

    Unterschiede zwischen Chips und Designplänen aufspüren

    Das Team um Becker und Puschner untersuchte Chips in den vier modernen Technologiegrößen 28, 40, 65 und 90 Nanometer. Sie arbeiteten mit Dr. Thorben Moos zusammen, der während seiner Promotion an der Ruhr-Universität Bochum mehrere Chips designt hatte und hatte anfertigen lassen. Somit lagen sowohl die Designdateien als auch die angefertigten Chips vor. Natürlich konnten die Forscher die Chips nicht nachträglich verändern und Hardware-Trojaner einbauen. Also bedienten sie sich eines Tricks: Sie manipulierten nicht die Chips. Stattdessen veränderte Thorben Moos seine Designs nachträglich so, dass minimale Abweichungen zwischen den Plänen und den Chips entstanden. Dann prüfte die Bochumer Gruppe, ob sie diese Veränderungen aufspüren konnte, ohne zu wissen, was genau sie wo suchen mussten.

    Das Team der Ruhr-Universität und vom MPI musste die Chips dazu zunächst aufwändig chemisch und mechanisch präparieren, um dann mit einem Rasterelektronenmikroskop jeweils mehrere Tausend Bilder der untersten Chipebenen aufnehmen zu können. Auf diesen Ebenen befinden sich mehrere Hunderttausend der sogenannten Standardzellen, die logische Operationen ausführen.

    „Die Chipbilder und die Designpläne zu vergleichen war eine Herausforderung, weil wir die Daten zunächst präzise übereinanderlegen mussten“, so Endres Puschner. Hinzu kam, dass jede kleine Verunreinigung auf dem Chip die Sicht auf bestimmte Bildbereiche versperren konnte. „Bei dem kleinsten Chip von 28 Nanometern Größe kann ein einziges Staubkorn oder Haar eine ganze Reihe von Standardzellen verdecken“, so der IT-Sicherheitsspezialist.

    Fast alle Manipulationen entdeckt

    Mithilfe von Bildverarbeitungsmethoden verglichen die Forscher Standardzelle für Standardzelle und suchten Abweichungen zwischen den Plänen und den mikroskopischen Aufnahmen der Chips. „Die Ergebnisse stimmen vorsichtig optimistisch“, resümiert Puschner. Bei den Chipgrößen von 90, 65 und 40 Nanometern konnte das Team alle Veränderungen zuverlässig detektieren. Gleichzeitig gab es 500 falsch-positive Treffer: Es wurden also Standardzellen als verändert erkannt, obwohl sie in Wirklichkeit unangetastet waren. „Bei mehr als 1,5 Millionen untersuchten Standardzellen ist das eine sehr gute Quote“, befindet Puschner. Lediglich bei dem kleinsten Chip von 28 Nanometern konnten die Forscher drei subtile Veränderungen nicht detektieren.

    Detektionsrate steigern durch Reinraum und optimierte Algorithmen

    Abhilfe schaffen könnte künftig eine bessere Aufnahmequalität. „Es gibt Rasterelektronenmikroskope, die auf die Aufnahme von Chipbildern spezialisiert sind“, verdeutlicht Becker. Wenn diese noch dazu in einem Reinraum eingesetzt würden, in dem Verunreinigungen verhindert werden könnten, sollte die Detektionsquote nochmals steigen.

    „Wir hoffen auch, dass andere Gruppen mit unseren Daten weiterarbeiten“, gibt Steffen Becker einen Ausblick. „Durch maschinelles Lernen könnte der Detektionsalgorithmus vermutlich so weit verbessert werden, dass er auch die Veränderungen auf den kleinsten Chips erkennen würde, die uns entgangen sind.“

    Förderung

    Die Deutsche Forschungsgemeinschaft förderte die Arbeiten im Rahmen der Exzellenzstrategie (EXC 2092 CASA — 390781972). Weitere Unterstützung kam vom Europäischen Forschungsrat (ERC-Projekt SWORD, 724725) sowie von der EU und Wallonien im Rahmen des Projekts „UserMEDIA“ (501907-379156).

    Bilder zum Download

    Weitere Bilder zu dieser Presseinformation finden Sie zum Download unter https://news.rub.de/presseinformationen/wissenschaft/2023-03-20-it-sicherheit-ma....


    Wissenschaftliche Ansprechpartner:

    Dr. Steffen Becker
    Eingebettete Sicherheit
    Fakultät für Informatik
    Ruhr-Universität Bochum
    Tel.: +49 234 90498 107
    E-Mail: steffen.becker@ruhr-uni-bochum.de

    Endres Puschner
    Embedded Security
    Max-Planck-Institut für Sicherheit und Privatsphäre
    Tel.: +49 234 90498 106
    E-Mail: endres.puschner@mpi-sp.org


    Originalpublikation:

    Endres Puschner, Thorben Moos, Steffen Becker, Christian Kison, Amir Moradi, Christof Paar: Red team vs. blue team: A real-world hardware trojan detection case study across four modern CMOS technology generations, Proceedings of the IEEE Symposium on Security and Privacy, 2023, DOI: 10.1109/SP46215.2023.00044, Download Preprint: https://eprint.iacr.org/2022/1720


    Bilder

    Steffen Becker (links) und Endres Puschner entwickeln Methoden, um Manipulationen an Chips zu identifizieren.
    Steffen Becker (links) und Endres Puschner entwickeln Methoden, um Manipulationen an Chips zu identi ...

    RUB, Marquard

    Um die Fehlerquote möglichst gering zu halten, brauchen die Forschenden optimale Bedingungen im Labor. Hier im Bild zu sehen ist eine winzige Verunreinigung, die mehrere Standardzellen verdeckt.
    Um die Fehlerquote möglichst gering zu halten, brauchen die Forschenden optimale Bedingungen im Labo ...

    RUB, Embedded Security


    Merkmale dieser Pressemitteilung:
    Journalisten
    Informationstechnik
    überregional
    Forschungsergebnisse, Wissenschaftliche Publikationen
    Deutsch


     

    Steffen Becker (links) und Endres Puschner entwickeln Methoden, um Manipulationen an Chips zu identifizieren.


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    Um die Fehlerquote möglichst gering zu halten, brauchen die Forschenden optimale Bedingungen im Labor. Hier im Bild zu sehen ist eine winzige Verunreinigung, die mehrere Standardzellen verdeckt.


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