idw – Informationsdienst Wissenschaft

Nachrichten, Termine, Experten

Grafik: idw-Logo
Science Video Project
idw-Abo

idw-News App:

AppStore

Google Play Store



Instanz:
Teilen: 
12.06.2013 14:55

Internationale Patenrechtsexperten diskutieren in München

Dr. Ulrich Marsch Corporate Communications Center
Technische Universität München

    Die Technische Universität München (TUM) veranstaltet gemeinsam mit dem Bayerischen Staatsministerium der Justiz und für Verbraucherschutz sowie dem Landgericht München I die Munich International Patent Law Conference 2013. Am 14. Juni treffen sich mehr als 30 renommierte Patentrichter aus Europa, den USA und Japan sowie weitere internationale Experten. Im Mittelpunkt der Konferenz stehen Fragen des Schadensersatzes bei Patentrechtsverletzungen. Unterstützt wird die Veranstaltung vom Europäischen Patentamt und den Munich Patent Litigators.

    Als „europäische Patenthauptstadt“ gewinnt München auch bei der Durchsetzung von Patenten international immer mehr an Bedeutung. Neben der bundesweit renommierten Patentstreitkammer des Landgerichts München I wird künftig auch eine der beiden Außenstellen der Zentralkammer des neuen EU-Patentgerichts hier angesiedelt sein. An der TUM erforscht der Lehrstuhl für Wirtschaftsrecht und Geistiges Eigentum (Prof. Christoph Ann) Fragen des Technologieschutzes.

    Journalisten sind herzlich eingeladen, sich mit den internationalen Experten auszutauschen. Zu Gast ist u.a. Richter James L. Robart vom US-Bezirksgericht Seattle, der jüngst im Streit zwischen Motorola und Microsoft eine wegweisende Entscheidung zur diskriminierungsfreien (FRAND)-Lizenzierung standardessentieller Patente getroffen hat.

    Programm: http://www.amiando.de/patentlawconference

    Termin:
    Munich International Patent Law Conference 2013
    „Calculating Damages in Patent Infringement Cases“
    Freitag, 14.6.2013, 9.15-17 Uhr
    Justizpalast
    Prielmayerstraße 7
    80335 München

    Kontakt:
    Prof. Dr. Christoph Ann
    Technische Universität München
    Lehrstuhl für Wirtschaftsrecht und Geistiges Eigentum
    T: 089 289 22662
    E: christoph.ann@tum.de
    W: http://www.jura.wi.tum.de


    Bilder

    Merkmale dieser Pressemitteilung:
    Journalisten
    Recht, Wirtschaft
    überregional
    Wissenschaftliche Tagungen
    Deutsch


     

    Hilfe

    Die Suche / Erweiterte Suche im idw-Archiv
    Verknüpfungen

    Sie können Suchbegriffe mit und, oder und / oder nicht verknüpfen, z. B. Philo nicht logie.

    Klammern

    Verknüpfungen können Sie mit Klammern voneinander trennen, z. B. (Philo nicht logie) oder (Psycho und logie).

    Wortgruppen

    Zusammenhängende Worte werden als Wortgruppe gesucht, wenn Sie sie in Anführungsstriche setzen, z. B. „Bundesrepublik Deutschland“.

    Auswahlkriterien

    Die Erweiterte Suche können Sie auch nutzen, ohne Suchbegriffe einzugeben. Sie orientiert sich dann an den Kriterien, die Sie ausgewählt haben (z. B. nach dem Land oder dem Sachgebiet).

    Haben Sie in einer Kategorie kein Kriterium ausgewählt, wird die gesamte Kategorie durchsucht (z.B. alle Sachgebiete oder alle Länder).