idw – Informationsdienst Wissenschaft
Nachrichten, Termine, Experten
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Automatische Oberflächeninspektion wird in der Industrie vor allem zur Qualitätskontrolle eingesetzt. Mit ihr kann ein kontinuierlicher Vergleich etwa von Massenprodukten zur Sollvorgabe erreicht werden. Dies ermöglicht es, frühzeitig fehlerhafte Produkte zurückzuhalten oder nachzubessern, aber auch, die Produktionsstrecke laufend zu optimieren.
Das 4. Informationstechnische Kolloquium "Oberflächeninspektion" fokussiert sich auf diesen industriellen Einsatz von Bildverarbeitung aus der Perspektive zweier Experten aus Industrie und Wissenschaft.
Das IITB selbst bietet mit RoboSens eine Lösung zur robo-terbasierten Qualitätsüberwachung von komplexen großflächigen Industrieprodukten sowie MultiScan zur automatischen Inspektion von texturierten Oberflächen auf Fehlstellen in Bezug auf Farbe, Glanz und 3-D-Fehler wie Kratzer oder Kerben. Diese Systeme und einige Arbeiten aus weiteren Feldern der rechnerbasierten Bildverarbeitung und Sensorik werden im Rahmen des Kolloquiums bei der Einweihung des neuen Multi-Sensor-Labors des IITB demonstriert.
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
Institutsleitung IITB
Dr.-Ing. Thomas Längle
Leitung Sichtprüfsysteme
Donnerstag, 23. März 2006, 15:00 im Vortragssaal des IITB
15:00 Begrüßung
Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer Fraunhofer IITB
15:15 "Intelligente Aufnahmetechniken als Basis für die Oberflächeninspektion"
Priv.-Doz. Dr.-Ing. Thomas Längle<br Fraunhofer IITB, Sichtprüfsysteme
15:45 "Analyse von Mehrfachstrukturen - Neue Lösungen für die bildbasierte Inspektion komplexer Oberflächen"
Prof. Dr.-Ing. Til Aach
Lehrstuhl für Bildverarbeitung, RWTH Aachen
16:30 "Aktuelle Anwendungen in der Oberflächeninspektion"
Dipl.-Ing. Schadnusch Nejad,
ATMvision AG, Pfullendorf
17:15 Führung im Multisensor-Labor
Gedankenaustausch bei Wein und Brezeln
Ihre Anmeldung zur kostenfreien Teilnahme senden Sie bitte bis zum 14. März 2006 an mailto:michael.liepert@iitb.fraunhofer.de[Michael Liepert].
Prof. Dr.-Ing. Til Aach,
Lehrstuhl für Bildverarbeitung, RWTH Aachen
Analyse von Mehrfachstrukturen - Neue Lösungen für die bildbasierte Inspektion komplexer Oberflächen
Prof. Til Aach forscht seit 2004 als Inhaber des Lehrstuhls für Bildverarbeitung der RWTH Aachen mit den Schwerpunkten Bildgebung und -verarbeitung in Medizin und Industrie, sowie Maschinensehen ("Computer Vision"). Davor war er Direktor des Instituts für Signalverarbeitung der Universität zu Lübeck und in den Philips GmbH Forschungslaboratorien tätig.
Dipl.-Ing. Schadnusch Nejad,
ATMvision AG, Pfullendorf
Aktuelle Anwendungen in der Oberflächeninspektion
Nach Tätigkeiten bei Bosch GmbH, Vorstand Rohwedder AG, Vorstandvorsitzender der IPTE-FA AG ist Herr Nejad Aufsichtsratsvorsitzender bei ATMvision AG, und Dozent an der Universität Karlsruhe. ATMvision AG entwickelt Systeme und Lösungen, die u. a. Laser, Sensorik und 2D/3D-Bildverarbeitung anwenden.
Information on participating / attending:
Ihre Anmeldung zur kostenfreien Teilnahme senden Sie bitte bis zum 14. März 2006 an mailto:michael.liepert@iitb.fraunhofer.de[Michael Liepert].
Date:
03/23/2006 15:00 - 03/23/2006 18:00
Event venue:
Fraunhofer-Institut für Informations- und Datenverarbeitung IITB
Fraunhoferstraße 1
Telefon 07 21 / 6091 - 0
Fax 07 21 / 6091 - 4 13
76131 Karlsruhe
Baden-Württemberg
Germany
Target group:
Scientists and scholars, Students
Email address:
Relevance:
transregional, national
Subject areas:
Information technology, Materials sciences, Mechanical engineering
Types of events:
Entry:
03/03/2006
Sender/author:
Dipl.-Ing. Sibylle Wirth
Department:
Presse und Kommunikation
Event is free:
no
Language of the text:
German
URL of this event: http://idw-online.de/en/event16498
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