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Nachrichten, Termine, Experten
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Die Arbeitstagung »Angewandte Oberflächenanalytik« (AOFA) ist nun bereits seit über 30 Jahren ein wichtiges und etabliertes Forum für alle Entwickler, Betreiber und Nutzer von modernen Oberflächenanalyseverfahren. Ziel der Arbeitstagung ist es, den Informationsaustausch zwischen Entwicklern, Betreibern und Nutzern der Oberflächenanalytik zu ermöglichen. Daher stehen anwendungsorientierte Themen im Vordergrund.
Das wissenschaftliche Programm soll dem Erfahrungs- und Informationsaustausch über die Anwendungen physikalischer Verfahren zur Oberflächen-, Schicht- und Tiefenprofilanalyse dienen. Es soll aktuelle Problemstellungen deutlich machen sowie neue Entwicklungen in diesen Bereichen darstellen und anregen. Auf der Tagung werden Fortschrittsberichte von Analytikern, Werkstoffwissenschaftlern, Festkörperphysikern und -chemikern sowie Technologen analytisch-methodische Entwicklungen und wissenschaftlich-technologische Problemlösungen präsentiert.
Die Tagung findet im zweijährigen Turnus statt, dieses Jahr das erste Mal am Fraunhofer-Anwendungszentrum für Anorganische Leuchtstoffe in Soest im Auftrag der Deutschen Vakuumgesellschaft e.V. (DVG). Sie wird unterstützt durch die Fachhochschule Südwestfalen.
Dem Motto »Surface meets Light« wird eine eigene Sitzung gewidmet, in der ausschließlich Methoden der optischen Oberflächenanalytik wie beispielsweise Fluoreszenz-, Infrarot- oder Raman-Spektroskopie im Mittelpunkt stehen sollen.
Themenkreise der AOFA 2016:
- Analyse der Oberflächen- und Grenzflächeneigenschaften von Werkstoffen (Metalle, anorganische und organische Halbleiter, Gläser, Keramiken, Polymere, magnetische Materialien, Biowerkstoffe)
- Chemische Reaktionen an Oberflächen und inneren Grenzflächen (Adsorption, Korrosion, Oxidation, Katalyse)
- Teilchentransport an Festkörperoberflächen und dünnen Schichten (Diffusion, Segregation)
- Charakterisierung und Kontrolle von Dünnschichtsystemen
- Oberflächen- und Tiefenprofilanalyse an Isolatoren (Gläser, Keramiken, Polymere)
- Strukturbestimmung im oberflächennahen Bereich
- Mikro- und Nanobereichsanalyse (abbildende Analysen, Tiefenprofilanalyse)
- Spurenanalyse
- Neue verfahrens- und gerätetechnische Entwicklungen
- Quantifizierung von Messsignalen
- Schadensanalysen
- Neue Einsatzmöglichkeiten von oberflächenanalytischen Methoden
Fristen:
Anmeldeschluss Firmenausstellung 1. April 2016
Einreichungsschluss Abstract 15. April 2016
Anmeldeschluss Teilnahme Regulär 15. August 2016
Tagungssekretariat:
Angelika Rebentisch
Fraunhofer-Anwendungszentrum für Anorganische Leuchtstoffe
Lübecker Ring 2
59494 Soest
Telefon: +49 2921 378-3559
E-Mail: angelika.rebentisch@imws.fraunhofer.de
Veranstalter:
Fraunhofer-Anwendungszentrum für anorganische Leuchtstoffe
Fachhochschule Südwestfalen
Deutsche Vakuum-Gesellschaft DVG e.V.
Weitere Informationen:
http://www.awz-soest.fraunhofer.de/AOFA2016
http://www.vakuumgesellschaft.de
http://www.fh-swf.de
Information on participating / attending:
Teilnahmegebühren:
Reguläre Teilnahme* 350 Euro
Mitglieder der DVG* 300 Euro
Studenten* 150 Euro
Tageskarten** 150 Euro
*Gebühr schließt das Tagungsmaterial, das Programmheft mit den Beitragskurzzusammenfassungen, die Teilnahme am Firmenabend und am Konferenzausflug mit Konferenzdinner sowie die Pausengetränke mit ein.
**Gebühr schließt das Tagungsmaterial und das Programmheft mit den Beitragskurzfassungen inkl. Veranstaltung des Tages mit ein.
Date:
09/05/2016 - 09/07/2016
Event venue:
Campus der Fachhochschule Südwestfalen in Soest
Lübecker Ring 2
59494 Soest
Nordrhein-Westfalen
Germany
Target group:
Business and commerce, Scientists and scholars
Email address:
Relevance:
transregional, national
Subject areas:
Chemistry, Electrical engineering, Materials sciences, Mechanical engineering, Physics / astronomy
Types of events:
Conference / symposium / (annual) conference
Entry:
03/10/2016
Sender/author:
Angelika Rebentisch
Department:
Presse- und Öffentlichkeitsarbeit
Event is free:
no
Language of the text:
German
URL of this event: http://idw-online.de/en/event53572
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