idw – Informationsdienst Wissenschaft
Nachrichten, Termine, Experten
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Die folgenden Methoden stehen im Fokus der praxisnahen Vorträge:
• Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
• Raster-Augerelektronenmikroskopie (SAM)
• Rasterkraft-/Rastersondenmikroskopie (AFM/SPM)
• Transmissions- und Rastertransmissionselektronenmikroskopie (TEM/STEM), einschließlich EELS/EDX
• Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
Eine Führung durch das DFG-Gerätezentrum ICAN mit Demonstrationen sowie Beratungen zu individuellen Fragestellungen runden den Workshop ab.
ICAN ist eine Einrichtung des Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE) zur Charakterisierung von Oberflächen und Nanomaterialien. Es bündelt Geräte, Methoden und fachliche Kompetenz zur Analytik auf der Nanometerskala und stellt diese internen und externen Nutzern innerhalb von Kooperationen sowie als Dienstleistung zur Verfügung. Den Mittelpunkt bildet ein hochmodernes Mikroskopiezentrum mit fünf zueinander komplementären Großgeräten.
Weitere Informationen:
Prof. Dr. Nils Hartmann, ICAN, 0203 379.8033, nils.hartmann@uni-due.de
Information on participating / attending:
Date:
11/17/2016 - 11/18/2016
Registration deadline:
11/11/2016
Event venue:
NETZ
Carl-Benz-Str. 199
47047 Duisburg
Nordrhein-Westfalen
Germany
Target group:
Business and commerce, Scientists and scholars
Email address:
Relevance:
transregional, national
Subject areas:
Chemistry, Electrical engineering, Energy, Materials sciences, Physics / astronomy
Types of events:
Seminar / workshop / discussion
Entry:
10/20/2016
Sender/author:
Ulrike Bohnsack
Department:
Ressort Presse - Stabsstelle des Rektorats
Event is free:
no
Language of the text:
German
URL of this event: http://idw-online.de/en/event55748
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