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05/18/2006 - 05/19/2006 | Ilmenau

PATINFO 2006 - 28. Internationale Konferenz zu Patentinformation und gewerblichem Rechtsschutz der TU Ilmenau

Die PATINFO der TU Ilmenau bietet traditionell einen kompakten jährlichen Überblick über neueste Entwicklungen des gewerblichen Rechtsschutzes, der Patentinformation sowie der Be- und Verwertung von Patenten. Das entstehende Kompetenzprofil für Patentmanager wird damit unterstützt.
Auf der PATINFO 2006 verdeutlichen die Beiträge des Europäischen Patentamtes, des europäischen Harmonisierungsamtes, des Deutschen Patent- und Markenamtes, des Bundespatentgerichts und des Russischen Patentamtes sowohl die Tendenzen des gewerblichen Rechtsschutzes als auch die Informationsleistungen dieser Ämter.
Im Mittelpunkt dieser Informationsleistungen stehen nutzerfreundliche Datenbanken zur kostenfreien Nutzung sowie die Rohdatenlieferung als Basis für Mehrwertdienste.
Die führenden Datenbankproduzenten stellen in Präsentationen und in der Ausstellung vor allem Mehrwehrdienste vor. Wesentliche Komponenten der Mehrwehrdienste sind verbesserte Inhaltserschließungsmethoden, neue Recherchemöglichkeiten und hochwertige Analysewerkzeuge.
Die Industrievertreter konkretisieren ihre Anforderungen an die Qualität der Schutzrechte als Basis ihrer Informationstätigkeit und sie beschreiben ihre Methoden bei der Nutzung des quantitativ und qualitativ wachsenden Informationsangebots.
Auch wenn im Mittelpunkt der Konferenz das Patent einschließlich seiner Be- und Verwertung steht, das Gebrauchsmuster, die Marke und das Geschmacksmuster werden gebührend berücksichtigt.
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Donnerstag, den 18. Mai 2006

13.00 Uhr
Begrüßung
Peter Scharff, Rektor der Technischen Universität Ilmenau

Die strategischen Ziele des Deutschen Patent- und Markenamtes
Jürgen Schade, Präsident des Deutschen Patent- und Markenamtes, München

Patentgerichtsentscheidungen und ihre Recherche
Bernd Tödte, Vizepräsident des Bundespatentgerichts, München

Kompetenzprofil für Patentmanager - ein Modellkonzept
Ursula Georgy, Marc Rittberger, Fachhochschule Köln, Köln; DIPF, Frankfurt a. M.
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14.40 Uhr Kaffeepause
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15.10 Uhr
Aktuelle Entwicklung des Gebrauchsmusters
Edwin Müllner, Bundespatentgericht, München

Qualität der Patentanmeldungen: Klasse statt Masse
Minoo Philipp - Präsidentin der PDG, Henkel KGaA, Düsseldorf

Markenanmeldung aus der Sicht eines recherchierenden Prüfers
Astrid Graul, Deutsches Patent- und Markenamt, Jena
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16.30 Uhr Kaffeepause
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17.00 Uhr
Open Patent Services aus Industriesicht
Peter Kallas, BASF AG, Ludwigshafen

17.50 Uhr
Auswirkungen der IPC-Reform auf die Patentrecherche
Christiane Emmerich, Fachinformationszentrum Karlsruhe, Karlsruhe

20.00 Uhr Thüringer Büfett in der Festhalle

Freitag, den 19. Mai 2006

9.00 Uhr
Neue Informationstechnologien im Bereich Gemeinschaftsmarke und Gemeinschaftsgeschmacksmuster
Susy Scardocchia, Harmonisierungsamt für den Binnenmarkt, Alicante

Qualitätserhöhung der Markenrecherche und Markenüberwachung
Caterina Dauvergne, QuesteloOrbit, Paris

Optimierung der Geschmacksmusterinformation im Unternehmen:
von Papier zur Datenbank*
Humberto Montenegro, Henkel KGaA, Düsseldorf
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10.15 Uhr Kaffeepause
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10.45 Uhr
Auswirkungen von Besonderheiten der Patenterteilungsverfahren in den USA, Japan und ausgewählten EPÜ-Ländern auf die Patentrecherche
Peter Paris, Europäisches Patentamt, Wien

Patentrecherche in interdisziplinären Gebieten
Manfred Scheu, Europäisches Patentamt, Den Haag

Nichtpatentliteratur in der Neuheitsrecherche: Fakten und Zahlen
Paul Schwander, Europäisches Patentamt, Den Haag
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12.00 Uhr Mittagspause
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13.00 Uhr
Kostenfreie Internet-Datenbanken für chinesische, japanische und koreanische Patentdokumente
Irene Schellner, Europäisches Patentamt, Wien

Kostenfreie und kommerzielle Internetdienstleistungen des Russischen Patentamtes
Boris Genin, Victor Belaev, Russisches Patentamt, Moskau

Neuartige Volltextrecherche, Japanische-F-Term-Recherche und PatBase Express - ein neues Interface für Endnutzer
Jochen Lennhof, Minesoft, London
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14.40 Uhr Kaffeepause
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15.10 Uhr
Das interaktive Analyse- und Visualisierungstool STNAnaVist
Claus-Dieter Siems, Elke Thomä, Fachinformationszentrum Karlsruhe, Karlsruhe; TU Ilmenau / PATON, Ilmenau

Patentbewertung und Patentanalysen - Zweck, Adressaten, Kontext, Methoden und Technik
Wolfgang Runge, Independent Scientist and Consultant, Rastatt

IPscore - ein Instrument zur Patentbewertung
Poul-Erik Nielsen, Dänisches Patent- und Markenamt, Kopenhagen

Methoden der Patentverwertung
N.N.
Technologie Allianz, ....
16.50 Uhr Ende der Veranstaltung

Zusatzangebot: PATON-Besichtigung
Freitag, 19. Mai 2006
10.30 Uhr Autobus-Abfahrt vor der Festhalle
11.30 Uhr Autobus-Rückfahrt ab PATON

Noch in Abstimmung befindliche Vorträge:

PCT-Anmeldungen mit PCT-SAFE: Vorteile der WIPO-Software
Hans Leise, WIPO, Genf

Patentinformationsleistungen für Hochtechnologien
Meir Noam, Präsident des Israelischen Patentamts, Jerusalem

Leistungsprofil regionaler Patentzentren / Patentanalyse mittels PATONanalist
N.N. TU Ilmenau / PATON, Ilmenau

Information on participating / attending:
Tagungsgebühr für Teilnehmer:
Anmeldung und Bezahlung bis zum 24. April 2006: 220, - €
Anmeldung und Bezahlung nach dem 24. April 2006: 240, - €
In der Tagungsgebühr sind der Tagungsband, die Pausenversorgung und die
18.Mai 2006-Abendveranstaltung enthalten .
Gebührenfrei nur für Referenten bzw. für je zwei Teilnehmer /Referenten eines Ausstellers, der die gesondert erhobene Ausstellungsgebühr gezahlt hat.

Überweisungskonto:
Bitte überweisen Sie die Tagungsgebühr auf nachfolgendes Konto:
Staatshauptkasse Thüringen,
Deutsche Bundesbank Erfurt
Bankleitzahl 820 000 00
Konto-Nr. 820 015 00
Zahlungsgrund: 1581/65210096/11196/PATINFO

Wichtiger Hinweis: Bitte unbedingt den Firmennamen und den Namen des Teilnehmers auf Ihrer Überweisung angeben! Eine Rechnungslegung erfolgt nicht. Eine
Bestätigung über die Einzahlung der Tagungsgebühren erfolgt auf Anfrage
im Tagungsbüro.

Stornierung: Bei Stornierungen nach dem 24. April 2006 wird eine Bearbeitungsgebühr von 25,- € pro Person erhoben.
Erfolgt eine Stornierung nach dem 8. Mai 2006, wird die Tagungsgebühr
einbehalten.

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