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02/16/2001 14:25

PARTEC 2001 goes NANO

Inge Arnold Stabsabteilung Presse, Kommunikation und Marketing
Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz-Gemeinschaft

    Experten aus Industrie und Forschungseinrichtungen diskutieren Messmethoden für Nanopartikel-Prozesse

    Im Vorfeld des Internationalen Kongresses über Partikeltechnik, Partec 2001, findet im Nürnberger Messezentrum am 26. März ab 9.00 Uhr ein Workshop über "Nanopartikel-Prozessmesstechnik" statt. Ziel des Workshops ist die Entwicklung von Standards für die Messung der chemischen und physikalischen Prozesse beim Aufbau von Nanopartikeln. Zu diesem Workshop sind Interessierte aus Wissenschaft und Industrie sowie Medienvertreter herzlich eingeladen.

    Feine Partikel sind alte Bekannte im Produktportfolio der Spezialitätenchemie. Wirtschaftliche Bedeutung haben sie als Pigmente oder Füllstoffe. Zum Beispiel sind im Silikonkautschuk erst durch das Hinzufügen von hochstrukturierten feinteiligen Partikeln die notwendige Elastizität und Festigkeit erreichbar. In der Papier- und Druckindustrie wird in fast allen schwarzen Farben Ruß als Pigment verwendet.
    Vor allem die kleinsten Partikel mit Durchmessern im Nanobereich (Millionstel Millimeter) stehen heute im Mittelpunkt des Interesses, weil ihre physikalisch-chemischen Eigenschaften extrem von der Partikelgröße und Partikelform bestimmt werden. Wenn die Herstellungsprozesse für Nanopartikel entsprechend kontrolliert und gesteuert werden, lassen sich so bedarfsgerecht maßgeschneiderte Nanopulver herstellen.
    Die Messung und Steuerung der Partikel-Wachstumsprozesse gestaltet sich jedoch schwierig, weil die Zeit zur Partikelbildung extrem kurz ist, bei der Synthese aus der Gasphase zum Beispiel nur wenige Millisekunden. Erschwerend kommt hier noch die hohe Reaktionstemperatur bis 2400 °C hinzu.
    Ziel des Workshops "Nanopartikel-Prozessmesstechnik" im Nürnberger Messezentrum ist, geeignete Prozessmessstandards für Nanopartikel zu entwickeln. Der Workshop wird am 26. März 2001 von 9.00 Uhr bis 19.30 Uhr vom Kompetenzfeld Nanotechnik des VDI-GVC gemeinsam mit dem Netzwerk NanoMat im Forschungszentrum Karlsruhe, dem Sonderforschungsbereich 445 und der Dechema e. V. ausgerichtet. Vortragsprogramm und Anmeldungsformular sind unter www.nanomat.de/veranst.htm abrufbar.
    Der Workshop wurde im Vorfeld der PARTEC 2001 (27. bis 29. März im Nürnberger Messezentrum) platziert, die im dreijährigen Rhythmus durchgeführt wird und eine internationale Diskussionsplattform zur Partikelherstellung, Handhabung, Charakterisierung und Anwendung bietet. Die Vorträge und Poster spiegeln nicht nur den interdisziplinären Charakter der Partikeltechnik wider, sondern auch die vom wissenschaftlichen Komitee der Konferenz beabsichtigte Balance zwischen Beiträgen aus Forschungseinrichtungen und aus der Industrie. Hervorzuheben ist der Hauptvortrag von Prof. Philiposian (USA) über Nanopartikel, die zur ultrapräzisen Oberflächenbearbeitung von Wafern eingesetzt werden. Begleitend findet eine Industrieausstellung zusammen mit PowTech (Internationale Fachmesse für Mechanische Verfahrenstechnik und Analytik), TechnoPharm (Internationale Fachmesse für Entwicklung, Herstellung und Analytik pharmazeutischer, kosmetischer, diätetischer und Health Food Produkte) und ExploRisk (Internationale Fachmesse für Explosionsschutz und Anlagensicherheit) statt. Ein detailliertes Programm der PARTEC 2001 ist unter www.partec2001.de abrufbar.
    Joachim Hoffmann 16. Februar 2001

    Das Farbfoto senden wir Ihnen auf Wunsch gerne zu (Telefon 07247/82-2861).


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    Die millionenfache Vergrößerung eines Nanopartikels (Quelle: Degussa-Hüls AG).
    Die millionenfache Vergrößerung eines Nanopartikels (Quelle: Degussa-Hüls AG).

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    Criteria of this press release:
    Biology, Chemistry, Materials sciences, Mathematics, Mechanical engineering, Physics / astronomy
    transregional, national
    Miscellaneous scientific news/publications, Scientific conferences
    German


     

    Die millionenfache Vergrößerung eines Nanopartikels (Quelle: Degussa-Hüls AG).


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