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Nachrichten, Termine, Experten
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TWS und FH sind erneut Ausrichter der AOFA.
Termin: 24. - 26. September 2012 - "Call for Paper" läuft bis 1. Mai 2012
Soest. Die alle zwei Jahre stattfindende Arbeitstagung „Angewandte Oberflächenanalytik“ (AOFA) richtet sich an Analytiker, aber auch an Entwickler, Betreiber und Nutzer von Oberflächenanalyseverfahren. Die diesjährige 17.Tagung wird vom Institut für Technologie und Wissenstransfer im Kreis Soest e.V. (TWS) und der Fachhochschule Südwestfalen vom 24. - 26. September 2012 in der Stadthalle in Soest ausgerichtet.
In vielen Hightech-Bereichen der Material- und Werkstoffwissenschaften spielen Oberflächen, dünne Schichten, Grenzflächen insbesondere aber Analysemethoden zur Charakterisierung von Phänomenen in Mikro- und Nano-Bereichen eine wichtige Rolle.
Farbe, Struktur, Härte und viele andere Eigenschaften von Materialien, Werkstoffen, Gegenständen des täglichen Gebrauchs sind hiervon berührt.
Oberflächendünnschicht-, Mikro- und Nanobereichsanalytik dienen dabei zur Qualitätsverbesserung und -sicherung zur Entwicklung neuer Hightech-Produkte aber auch zur Prozessoptimierung und -kontrolle.
Wissenschaftler vom Hochschulstandort Soest (Arbeitsgruppe Prof. Dr. Karl-Heinz Müller) arbeiten schon seit vielen Jahren erfolgreich auf dem Gebiet der Oberflächenphysik in den Bereichen Grundlagenforschung, verfahrens- und gerätetechnische Entwicklungen sowie Analytik für industrielle Anwendungen.
Hiervon partizipieren insbesondere KMUs der Region, die ansonsten kaum oder nur wenig Zugriff auf Analysemethoden dieser Art haben. Das wissenschaftliche Komitee der Tagungsreihe Angewandte Oberflächenanalytik hat die Soester Wissenschaftler um Professor Müller mit der Durchführung der 17. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik beauftragt.
Dr. Hubert Paulus vom TWS ist dabei für Organisation und das wissenschaftliche Programm zuständig. Dabei wird er von Dr. Mark Schülke (FB Maschinenbau) unterstützt, der darüber hinaus die Veröffentlichung der Tagungsbeiträge in einer internationalen renommierten Fachzeitschrift organisiert. Die begleitende fachliche Firmenausstellung, auf der sich Hersteller und Dienstleister aus dem Analyse-Sektor beteiligen wird von Dipl.-Ing. Martin Lammers (TWS) betreut und organisiert.
Die 17. AOFA ist eine wichtige Plattform, auf der Aspekte der gesamten Kette vom Problem über die analytische Fragestellung bis hin zur Problemlösung behandelt werden. Auf dem Kongress werden Fortschrittsberichte von Analytikern, Werkstoffwissenschaftlern, Festkörperphysikern und Technologen über neue methodische Entwicklungen vorgestellt.
Nutzer und Anwender oberflächenanalytischer Verfahren aus der Industrie können sich über den aktuellen Stand der Forschungen und Entwicklungen informieren - inklusive der zugehörigen Grundlagen. Daneben besteht die Möglichkeit, aktuellen Problemstellungen aus der industriellen Praxis darzustellen und somit neue verfahrens- und gerätetechnische Entwicklungen anzuregen.
Das dreitägige Tagungsprogramm umfasst ausgewählte Hauptvorträge sowie Kurzvorträge und Poster. Parallel dazu werden die Vorträge in einer Fachzeitschrift veröffentlicht. In einer parallel stattfindenden Firmenausstellung während der Konferenz stellen sich Hersteller von Analysegeräten sowie Anbieter von Auftragsanalysen vor.
Im Vorfeld der Arbeitstagung lädt die Deutsche Vakuumgesellschaft zu einem Tutorium der Oberflächenanalytik (21./22.Sept.) nach Soest. Das Tutorium wendet sich einerseits an Physiker, Chemiker, Materialwissenschaftler und Ingenieure, die in den Bereichen Produkt- und Prozessentwicklung, Prozessoptimierung und –kontrolle, Qualitätssicherung sowie Fehler- und Schadensanalytik arbeiten. Andererseits wird aber auch Studenten in höheren Semestern, Doktoranden, Berufsanfängern oder –umsteigern in den genannten Bereichen ein kompakter und verständlicher Einstieg in die physikalischen Grundlagen der Oberflächenanalytik geboten.
Themenkreise der AOFA 17
Analyse der Oberflächen- und Grenzflächeneigenschaften von Werkstoffen (Metalle, anorganische und organische Halbleiter, Keramiken, Polymere, magnetische Materialien, Biowerkstoffe)
Chemische Reaktionen an Oberflächen und inneren Grenzflächen (Adsorption, Korrosion, Oxidation, Katalyse)
Teilchentransport an Festkörperoberflächen und dünnen Schichten (Diffusion, Segregation)
Charakterisierung und Kontrolle von Dünnschichtsystemen
Oberflächen- und Tiefenprofilanalyse an Isolatoren (Glas, Keramik, Polymere)
Strukturbestimmung im oberflächennahen Bereich
Mikro- und Nanobereichsanalyse (abbildende Analysen, Tiefenprofilanalyse)
Spurenanalyse
Neue verfahrens- und gerätetechnische Entwicklungen
Quantifizierung von Messsignalen
Schadensanalysen
Neue Einsatzmöglichkeiten von oberflächenanalytischen Methoden
17. Arbeitstagung „Angewandte Oberflächenanalytik“ (AOFA 17)
24. - 26. September 2012
Ort: Stadthalle Soest
Konferenzsekretariat
M. Haverland, G. Schimmelpfennig
Institut für Technologie- und Wissenstransfer im Kreis Soest e.V. (TWS)
Fachhochschule Südwestfalen
Lübecker Ring 2
59494 Soest
Tel.: +49 (0)2921 378-260
Fax: +49 (0)2921 378-266
E-Mail: info@aofa17.de
Veranstalter:
Fachhochschule Südwestfalen
Institut für Technologie- und Wissenstransfer im Kreis Soest (TWS)
Deutsche Vakuum-Gesellschaft DVG e.V.
Deutsche Physikalische Gesellschaft DPG, Fachverband Mikrosonden
Beteiligte Organisationen:
Österreichische Gesellschaft für Analytische Chemie (ASAC) in der GÖCh,
Deutscher Arbeitskreis für Angewandte Spektroskopie (DASp) der GDCh-Fachgruppe Analytische Chemie
European Microbeam Analysis Society EMAS
SCADEG, Sektion für strukturelle und chemische Dünnschicht- und Grenzflächenanalyse der Kgl. Niederländischen Chemischen Vereinigung
Schweizerische Arbeitsgemeinschaft Oberflächen und Grenzflächen SAOG,
Dt. Verband für Materialforschung und -prüfung DVM Stahlinstitut VDEh
Gesellschaft Deutscher Chemiker e.V.
http://www.aofa17.de
http://www.vakuumgesellschaft.de
http://www.fh-swf.de
Criteria of this press release:
Business and commerce, Journalists, Scientists and scholars
Chemistry, Electrical engineering, Materials sciences, Mechanical engineering, Physics / astronomy
regional
Scientific conferences
German
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