Innovative Verfahren zur Qualitätssicherung in der Elektronikindustrie beim 2. X-ray Forum vorgestellt
Das Institut für Elektronik-Technologie der TU Dresden (IET) veranstaltet in Zusammenarbeit mit der phoenix|x-ray Systems und Services GmbH, Wunstorf, am 19. September 2002 das Fachseminar "2. X-ray Forum".
Etwa 75 Teilnehmer aus Deutschland, Österreich und der Schweiz, unter ihnen viele Industriepartner des IET, werden zu diesem Seminar erwartet.
Schwerpunkte des ganztägigen Seminars sind neue Technologien für hochintegrierte Elektronik-Baugruppen, Anforderungen an die zerstörungsfreie Prüftechnik und die Röntgeninspektion bleifreier Lötstellen insbesondere bei Area-Array-Bauelementen.
Auf der Suche nach Wegen, wie man bei der Fertigung elektronischer Bauteile und Baugruppen eine hohe Qualität sichern kann, erweist sich die Röntgendiagnostik als besonders geeignet. Winzig kleine elektronische Bauteile müssen in verschiedenen Fertigungsschritten hergestellt und zu Baugruppen montiert werden. Mittels röntgenmikroskopischer Untersuchungen gelingt es, die einzelnen Fertigungsschritte auf Qualität zu überprüfen.
Dazu werden entsprechende röntgenmikroskopische Anlagen benötigt.
Im Rahmen des Seminars präsentieren die Veranstalter am Nachmittag vier solcher Anlagen. Die Seminarteilnehmer haben die Möglichkeit, sich die neueste Röntgentechnik und Bewertungssoftware auch an ihren eigenen Proben demonstrieren zu lassen. Schwerpunkte sind die Analyse der Lötstellen von Area-Array-Bauelementen und höchstauflösende nanofocus-Röntgeninspektion.
Das Seminar findet im Barkhausen-Bau, Hörsaal BAR 205, Haupteingang Helmholtzstraße und in den Laboren des IET, BAR S33, statt.
Weitere Informationen: Dipl.-Ing. Dietmar Daniel, Tel. (03 51) 4 63?3 86 25, e-mail: daniel@iet.et.tu-dresden.de, Ilka Döring, phoenix|x-ray Systems + Services GmbH, Tel. (07 11) 88 79 61-27, e-mail: idoering@phoenix-xray.com
Criteria of this press release:
Electrical engineering, Energy
transregional, national
Miscellaneous scientific news/publications, Organisational matters, Scientific conferences
German
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