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Neues vom Blick auf kleinste Strukturen:
Internationaler Workshop "Rastersondenverfahren in Nanostrukturforschung und industrieller Applikation"
Am 1. Oktober 1998 treffen an der Universität des Saarlandes rund 250 Wissenschaftler aus aller Welt zu einem internationalen Workshop zusammen: Neueste Erkenntnisse und Forschungsergebnisse in Sachen Nanostrukturforschung und Rastersondenverfahren werden vorgestellt.
Veranstaltet wird das hochkarätig besetzte Expertentreffen von Prof. Dr. Uwe Hartmann von der Fachrichtung Experimentalphysik der Saar-Uni, der in diesem Jahr mit dem Philip-Morris-Forschungspreis eine der höchstdotierten Auszeichungen der Bundesrepublik erhalten hat, sowie der TopoMetrix GmbH.
Die Nanotechnologie beschäftigt sich mit der Erforschung millionstel Millimeter kleiner Materiebausteine und ihrer Struktur und gilt als eine der Technologien der Zukunft. Den Blick in diese normalerweise verborgene Welt ermöglichen die Rastersondenverfahren.
Hier hat der Saarbrücker Experimentalphysiker Prof. Dr. Uwe Hartmann mit der Entwicklung des sog. Raster-SQUID-Mikroskops erstmals ermöglicht, Strukturen bis hin zu atomarer Größe zu untersuchen. Das neue Mikroskop kann einerseits kleinste Magnetfelder messen und die räumliche Struktur einer Oberfläche erkunden sowie andererseits Zusammenhänge zwischen der Struktur einer Oberfläche und ihren elektronischen und magnetischen Eigenschaften aufdecken.
Sie haben noch Fragen? Dann setzen Sie sich bitte mit Herrn Prof. Dr. Uwe Hartmann in Verbindung: 0681 /302 - 3798 o. 3799
Programm des Workshops am 01.10.1998,
Campus Saarbrücken, Gebäude 22, Großer Hörsaal:
9 Uhr: Begrüßung
9.10 Uhr: Prof. Dr. H.-J. Güntherodt, Universität Basel:
Fortschritte in der Rastersondenmikroskopie
9.50 Uhr: Prof. Dr. H. Fuchs, Universität Münster:
Nanotechnologie - Spitzentechnologie?
10.30 Kaffeepause
11 Uhr: Prof. Dr. U. Hartmann, Universität des Saarlandes:
Einsatz von SQUIDs in der Rastersondenmikroskopie
11.40 Uhr: Dr. P. Koschinski, TopoMetrix GmbH Darmstadt:
Materialkontrast im Rasterkraftmikroskop mittels Wirbelstrommikroskopie
12.20 Mittagspause
14 Uhr: Prof. Dr. M.-Q. Li, Shanghai Institute of Nuclear Research
Molecular Imaging and Molecular Manipulation
14.40 Uhr: Prof. H. van Kempen, University of Nijmegen
Electronic Structure of III-V Semiconductors observed by STM at Low Temperature
15.20 Uhr Kaffeepause
15.40 Uhr: Dr. L. Risch, Siemens AG München:
Grundlegende Untersuchungen zum industriellen Einsatz von Einzelelektronen-Bauelementen
16.20 Uhr Dr. G. Persch, IBM Mainz:
Anwendungen von Rastersondenverfahren in der Magnetspeichertechnologie
17 Uhr: Abschließende Diskussion
http://www.uni-saarland.de/matfak/fb10/hartmann/
Criteria of this press release:
Materials sciences, Mathematics, Physics / astronomy
transregional, national
Miscellaneous scientific news/publications, Research projects, Scientific conferences
German
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