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Fraunhofer IPM transferiert die digital-holographische 3D-Messtechnologie in die Industrie. Der auf Lasermesstechnik und Formprüfung spezialisierte Industriepartner LAMTech präsentiert nun den ersten Demonstrator eines digital-holographischen Messsystems auf der Fachmesse CONTROL.
Die digitale Holographie ist seit vielen Jahren ein Forschungsschwerpunkt am Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM. Nun ist es im Rahmen eines ZIM-Projekts mit der Lamtech Lasermesstechnik GmbH und einem weiteren Industriepartner gelungen, die Vorteile der digital-holographischen 3D-Messtechnik für Industrieanwendungen nutzbar zu machen. Die Entwicklungspartner präsentieren die bisher erzielten Ergebnisse des noch laufenden Projekts in Form eines ersten Demonstrators auf der Messe CONTROL vom 9. bis 12. Mai 2017. In Halle 4 (Stand 4432) können sich Fachbesucher über die schnelle, submikrometergenaue Messung von 3D-Geometrien informieren und eigene Bauteilmuster messen lassen.
Aus dem Labor in die Industrie
Die Stuttgarter Lamtech Lasermesstechnik GmbH entwickelt und fertigt seit 1993 optische Messsysteme, insbesondere Interferometer zur Ebenheitsprüfung technischer Oberflächen. Mit dem holographischen Messsystem plant das Unternehmen, neue Märkte zu erschließen. »Unser Ziel ist ein Messsystem, mit dem wir 50 x 50 mm² große Flächen submikrometergenau messen können«, erklärt Geschäftsführer Dr. Bernd Packroß. »Dafür müssen vier Millionen Messpunkte in unter einer Sekunde erfasst werden – sogar an schwer zugänglichen tieferliegenden Ebenen. Das ist realistisch.«
Die Firma LAMTech präsentiert den ersten Demonstrator eines digital-holographischen 3D-Messsystems a ...
Source: Grafik: Fraunhofer IPM
Criteria of this press release:
Business and commerce, Journalists, Scientists and scholars
Materials sciences, Mechanical engineering
transregional, national
Research results, Transfer of Science or Research
German
Die Firma LAMTech präsentiert den ersten Demonstrator eines digital-holographischen 3D-Messsystems a ...
Source: Grafik: Fraunhofer IPM
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