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10/17/2017 10:48

Intelligente Messmethoden für die Bauwerkssicherheit: Fachtagung „Messen im Bauwesen“ am 14.11.2017

M.A., LL.M./LL.B. Venio Quinque Unternehmenskommunikation
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

    BAM und Bildungswerk VDV laden zur Fachtagung „Messen im Bauwesen“ am 14.11.2017

    Berlin, 17.10.2017. Von UAS über Ultraschall bis Geosensorik: Wie lassen sich Brücken und andere Infrastrukturbauwerke clever überwachen? Und was ergeben die Versuche an einer modellhaften „Referenzbrücke“ und einer realen Talbrücke?

    Die von der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) gemeinsam mit dem BILDUNGSWERK VDV - Verband Deutscher Vermessungsingenieure e. V. nun bereits zum neunten Mal veranstaltete Tagung „Messen im Bauwesen“ bietet Gelegenheit, sowohl verschiedenste praktische Erfahrungen auszutauschen als auch wissenschaftliche Erkenntnisse auf diesem Gebiet zu diskutieren.

    Im Fokus der Tagung steht das lebensdauerbegleitende Monitoring von Infrastrukturbauwerken. Deren Überwachung und Bewertung stellt eine wesentliche Aufgabe für die Sicherstellung der Funktionsfähigkeit des Infrastrukturnetzes dar. Dabei wird modernes Alterungsmanagement eingesetzt, z. B. durch zuverlässige Verfahren der zerstörungsfreien Prüfung und intelligente Methoden zur ganzheitlichen Strukturbewertung. In der diesjährigen Tagung werden innovative, technisch und wirtschaftlich geeignete Verfahren des Strukturmonitorings mit der Messtechnik der Bauingenieure und der Geodäten vorgestellt und diskutiert.

    Für die Fachvorträge konnten neben BAM-Wissenschaftlern auch namhafte Experten, u. a. von der Leibnitz Universität Hannover, der Technischen Universität Darmstadt, der Bauhaus-Universität Weimar, der Beuth Hochschule für Technik Berlin, der Technischen Universität Graz sowie Unternehmen aus Berlin gewonnen werden.

    Anmeldungen zur Tagung am 14.11.2017 werden noch entgegengenommen. Die Teilnahmegebühr beträgt für VDV-Mitglieder 70 Euro, für Nichtmitglieder 100 Euro und für Studenten 25 Euro. Die Anmeldung erfolgt online über das BILDUNGSWERK VDV unter http://anmeldung.bw-vdv.de. Veranstaltungsort ist die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) in Berlin-Steglitz. Weitere Informationen zur Tagung „Messen im Bauwesen“ 2017 finden Sie auf der Website der BAM.

    Kontakt:
    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
    Venio Quinque, M.A., LL.M./LL.B.
    Leiter Referat Unternehmenskommunikation
    T: + 49 30 8104-1002
    presse@bam.de
    www.bam.de

    Über die BAM

    Die BAM gewährleistet Sicherheit in Technik und Chemie.
    Die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) ist eine Bundesoberbehörde im Geschäftsbereich des Bundesministeriums für Wirtschaft und Energie.

    Die BAM forscht, prüft und berät zum Schutz von Mensch, Umwelt und Sachgütern. Im Fokus aller Tätigkeiten in der Materialwissenschaft, der Werkstofftechnik und der Chemie steht dabei die technische Sicherheit von Produkten und Prozessen. Dazu werden Substanzen, Werkstoffe, Bauteile, Komponenten und Anlagen sowie natürliche und technische Systeme von volkswirtschaftlicher Dimension und gesellschaftlicher Relevanz erforscht und auf sicheren Umgang oder Betrieb geprüft und bewertet. Die BAM ent¬wickelt und validiert Analyseverfahren und Bewertungsmethoden, Modelle und erforderliche Standards und erbringt wissenschaftsbasierte Dienstleistungen für die deutsche Wirtschaft im europäischen und internationalen Rahmen.

    Sicherheit macht Märkte.
    Die BAM setzt und vertritt für Deutschland und seine globalen Märkte hohe Standards für Sicherheit in Technik und Chemie zur Weiterentwicklung der erfolgreichen deutschen Qualitätskultur „Made in Germany“.


    More information:

    https://anmeldung.bw-vdv.de/
    https://www.bam.de/Content/DE/Veranstaltungen/2017/2017-11-14-messen-im-bauwesen...


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    Criteria of this press release:
    Business and commerce, Journalists, Scientists and scholars, Students
    Construction / architecture
    transregional, national
    Advanced scientific education, Scientific conferences
    German


     

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