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Nachrichten, Termine, Experten
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Das Institut für Elektronik-Technologie der Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik der TU Dresden veranstaltet am 18. September 2003 in Zusammenarbeit mit der phoenix|x-ray Systems und Services GmbH, Wunstorf, im Barkhausenbau, Helmholtzstraße 18, zum dritten Mal das Fachseminar "X-ray Forum".
Anerkannte Experten aus Forschung und Industrie werden neuere Entwicklungen in der Elektronik-Technologie im Zusammenhang mit der zerstörungsfreien Materialprüfung durch Röntgen darstellen. Der thematische Schwerpunkt liegt in diesem Jahr auf der dreidimensionalen Fehleranalyse mit Hilfe von Mikrofocus-Computertomographie (CT). Dieses relativ junge Verfahren ermöglicht völlig neue Möglichkeiten bei der Untersuchung komplexer Objekte aus Elektronik, Mikromechanik, Medizintechnik u.ä.
Im Anschluss an die Fachvorträge wird in den Labors des Zentrums für Mikrotechnische Produktion am Institut für Elektronik-Technologie die dort zur Verfügung stehende Produktions- und Prüftechnologie anhand der Montage und Qualifikation einer Demonstrator-Baugruppe vorgeführt. Hier können die Teilnehmer u.a. die Anwendungsmöglichkeiten von Ultraschallmikroskop und Laserprofilometer kennen lernen.
In einer parallel laufenden Ausstellung besteht die Möglichkeit, sich die neueste Röntgentechnik und Bewertungssoftware auch an Ihren eigenen Proben demonstrieren zu lassen.
Medienvertreter sind herzlich eingeladen, an der Veranstaltung teilzunehmen.
Informationen für Journalisten:
Ilka Döring, Tel. 0711 887961-27 oder 0160 97845710
Criteria of this press release:
Electrical engineering, Energy
transregional, national
Miscellaneous scientific news/publications, Scientific conferences
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