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Prof. Dr. René Krenz-Baath, Studiengangsleiter "Intelligent Systems Design", darf sich dank seiner Erfindung über das erste US-Patent der Hochschule Hamm-Lippstadt (HSHL) freuen. Seit vielen Jahren forscht er im Bereich verbesserter Testinfrastrukturen von Mikrochips. Die Patentierung in Deutschland gelang bereits 2019. Nun erreichte ihn im Oktober 2021 die erfreuliche Nachricht aus den USA, dass die dortige Patentanmeldung ebenfalls erfolgreich war.
Unterstützt werden die Bemühungen durch das EFRE-Förderprogramm "NRW-Patent-Validierung", welches zum Ziel hat, die Anwendungsreife von Hochschulerfindungen zu steigern. "Das Ziel dieses Projektes ist es, die patentierte Technik an die aktuellen und zukünftigen Herausforderungen der Industrie im Bereich Chip-Test anzupassen und somit eine erfolgreiche Vermarktung des Patentes zu ermöglichen", konkretisiert Prof. Krenz-Baath, der das Lehrgebiet "Technische Informatik Embedded Systems" innehat, diesen Förderansatz für seine Arbeit.
Die im Rahmen des Forschungsprojekts entwickelte neuartige flexible Testinfrastruktur für Mikrochips, ermöglicht genauer, kosten- und zeitsparender als bisher Tests durchzuführen – sowohl in der Chip-Produktion als auch bei in Betrieb befindlichen Mikrochips. Ermöglicht wird dies durch eine Vielzahl gleichzeitig rekonfigurierbarer Teststrukturen. Besondere Bedeutung hat diese Erfindung zum Beispiel in Bereichen der autonomen Steuerung, wie dem autonomen Fahren, um Betriebssicherheit wie auch Sicherheit anderer zu ermöglichen.
Das Projekt wird von der Europäischen Union aus dem Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung (EFRE) gefördert.
Prof. Dr. René Krenz-Baath, Studiengangsleiter "Intelligent Systems Design", +49 (0)2381 8789-415, rene.krenz-baath@hshl.de
http://www.hshl.de/presse
https://www.hshl.de/concurrent-ijtag/
Criteria of this press release:
Business and commerce, Journalists, Scientists and scholars
Information technology
transregional, national
Research projects
German
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