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Testmethoden in der Mikro- und Nanoelektronik
An der Freiburger Albert-Ludwigs-Universität findet vom 20. bis 24. Mai 2007 das 12. European Test Symposium (ETS07) des "Institute of Electrical and Electronics Engineers" (IEEE) statt. Themen des Symposiums sind Zuverlässigkeit und Testmethoden für Mikro- und Nanoelektronik. Die Fertigung gegenwärtiger mikroelektronischer Schaltungen ist fehleranfällig. Da solche Schaltungen unter anderem in sicherheitskritischen Systemen wie Autos, Zügen, Flugzeugen oder medizinischen Geräten eingesetzt werden, müssen sie vor ihrem Einsatz mit hohem Aufwand getestet werden. Die Testkosten können bis zu 60 Prozent der gesamten Fertigungskosten betragen. Das Symposium, das am
Montag, den 21. Mai 2007, um 8.30 Uhr im Konzerthaus Freiburg
beginnt, widmet sich unter anderem der Frage, wie Testmethoden so verbessert werden, dass sich Qualität und die Zuverlässigkeit von Mikroelektronik erhöht und gleichzeitig die Kosten ihrer Fertigung gesenkt werden. Auch für nanoelektronische Systeme von morgen sind Fragen zu Test und Zuverlässigkeit offen. So werden diese Systeme aus vermutlich unzuverlässigen Komponenten bestehen. Um dennoch ein zuverlässiges Funktionieren dieser Systeme zu gewährleisten, sind besondere Fertigungen gefragt. Auch dies ist ein von ETS07 abgedeckter industriell wie akademisch hoch relevanter Forschungsbereich.
Das "Institute of Electrical and Electronics Engineers" ist eine weltweit tätige Organisation der Elektroingenieure mit über 370. 000 Mitgliedern, darunter über 80. 000 Studierenden. Das Symposium wird vom Lehrstuhl für Rechnerarchitektur am Institut für Informatik der 11. Fakultät unter der Leitung von Professor Dr. Bernd Becker im Konzerthaus Freiburg organisiert. Etwa 150 Teilnehmer aus Europa, den USA, Südwestasien, aber auch dem mittleren Osten und Südamerika werden in Freiburg zusammenkommen, um neueste Forschungsergebnisse auszutauschen. Unterstützt wird ETS07 sowohl von global führenden Testgeräteherstellern und Entwurfsautomatisierungs-Softwarefirmen als auch von Sensoren-, Prozessautomatisierungs- und Mikroelektronikunternehmen aus Freiburg und Umgebung. Das Symposium ist Teil des Programms zum 550-jährigen Bestehen der Universität.
Kontakt:
Prof. Dr. Bernd Becker
Albert-Ludwigs-Universität
Institut für Informatik
Tel.: 0761/203-8140
Fax: 0761/203-8142
E-Mail: becker@informatik.uni-freiburg.de
http://ets07.informatik.uni-freiburg.de/
Criteria of this press release:
interdisciplinary
transregional, national
Miscellaneous scientific news/publications
German
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