idw – Informationsdienst Wissenschaft
Nachrichten, Termine, Experten
Nachrichten, Termine, Experten
idw - Informationsdienst
Wissenschaft
Aufgrund gestiegener messtechnischer Anforderungen in der Nanotechnologie wächst der Bedarf nach neuartigen Analysetechniken. Neue mathematische Ansätze ermöglichen es, die bisherigen messtechnischen Grenzen zu unterschreiten. Mit dem Talysurf CCI Lite ist die Analyse bis 20 nm sogar eines Mehrschichtensystems möglich.
Einführung
Aufgrund gestiegener messtechnischer Anforderungen in der Nanotechnologie wächst der Bedarf nach neuartigen Analysetechniken immens. So stoßen neue Denkansätze zur Messung von dünnen Schichten auf immer größeres Interesse.
Analyse dünner Schichten
Solange sich die Einhüllenden der Interferogramme einer (semi-) transparenten, beschichteten Probe trennen lassen, ist es möglich die entsprechende Schichtdicke zu bestimmen. In Abhängigkeit des Brechungsindex der Beschichtung lässt sich so eine Schichtdicke bis 1,5 µm bestimmen. Darunter sind die Einhüllenden nicht mehr zu trennen. Neue mathematische Ansätze jedoch ermöglichen es, die bisherigen messtechnischen Grenzen zu unterschreiten. Mit Hilfe der sogenannten "Helical Conjugate Field"-Funktion lassen sich aus den Rohdaten Informationen dünner Schichten extrahieren. In Kombination mit Kenntnissen über die optischen Materialeigenschaften ist die Analyse bis 20 nm sogar eines Mehrschichtensystems möglich.
Messung der Rauheit
Eine der größten Herausforderungen in der Interferometrie ist die Messung der Rauheit einer beschichteten Oberfläche. Oft setzt sich die gemessene Rauheit aus Anteilen der Oberfläche und der Zwischenschichten zusammen. Die Anwendung der HCF-Funktion auf die Ergebnisse der interferometrischen Auswertung liefert eine scharfe Trennung der Oberflächenrauheit sowie zwischen der dünnen Schicht und dem Substrat.
Das System wird im Rahmen der Sonderschau "Berührungslose Messtechnik" anlässlich der Control 2009 in Stuttgart, 5. bis 8. Mai, in Halle 1, Stand 1612, vorgestellt. Die Sonderschau will einen Beitrag zur Verbreiterung der Akzeptanz berührungsloser Messtechnik leisten, indem an einigen ausgewählten Exponaten die Konstruktionsprinzipien, Eigenheiten und Grenzen der neuen Messmöglichkeiten demonstriert werden. Die Sonderschau findet mit Unterstützung der P. E. Schall GmbH, den Mitgliedern des Control-Messebeirats und der Fraunhofer-Allianz Vision statt.
Fachkontakt:
Ametek GmbH, Geschäftsbereich Taylor Hobson
Dipl.-Ing. Margit Heilmann
Kreuzberger Ring 6
65205 Wiesbaden
Telefon: +49 611 9730-412
Fax: +49 611 9730-4600
E-Mail: margit.heilmann@ametek.de
http://www.taylor-hobson.de
Pressekontakt:
Fraunhofer-Allianz Vision
Regina Fischer M. A.
Am Wolfsmantel 33
91058 Erlangen
Telefon: +49 9131 776-530
Fax: +49 9131 776-599
E-Mail: vision@fraunhofer.de
http://www.vision.fraunhofer.de
Die Fraunhofer-Allianz Vision ist ein Zusammenschluss von Fraunhofer-Instituten zu den Themen Bildverarbeitung, optische Inspektion und 3-D-Messtechnik, Röntgenmesstechnik und zerstörungsfreie Prüfung.
http://www.vision.fraunhofer.de/de/0/projekte/426.html
http://www.vision.fraunhofer.de/de/5/presse/258.html - Text-Download für Presse
http://www.vision.fraunhofer.de/de/0/events/123.html - Übersicht Sonderschau "Berührungslose Messtechnik"
Criteria of this press release:
Electrical engineering, Information technology, Materials sciences, Mechanical engineering, Physics / astronomy
transregional, national
Research results, Transfer of Science or Research
German
You can combine search terms with and, or and/or not, e.g. Philo not logy.
You can use brackets to separate combinations from each other, e.g. (Philo not logy) or (Psycho and logy).
Coherent groups of words will be located as complete phrases if you put them into quotation marks, e.g. “Federal Republic of Germany”.
You can also use the advanced search without entering search terms. It will then follow the criteria you have selected (e.g. country or subject area).
If you have not selected any criteria in a given category, the entire category will be searched (e.g. all subject areas or all countries).
