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09/28/1998 00:00

Internationaler Workshop: Neues vom Blick auf kleinste Strukturen

Claudia Brettar Pressestelle der Universität des Saarlandes
Universität des Saarlandes

    Neues vom Blick auf kleinste Strukturen:
    Internationaler Workshop "Rastersondenverfahren in Nanostrukturforschung und industrieller Applikation"

    Am 1. Oktober 1998 treffen an der Universität des Saarlandes rund 250 Wissenschaftler aus aller Welt zu einem internationalen Workshop zusammen: Neueste Erkenntnisse und Forschungsergebnisse in Sachen Nanostrukturforschung und Rastersondenverfahren werden vorgestellt.

    Veranstaltet wird das hochkarätig besetzte Expertentreffen von Prof. Dr. Uwe Hartmann von der Fachrichtung Experimentalphysik der Saar-Uni, der in diesem Jahr mit dem Philip-Morris-Forschungspreis eine der höchstdotierten Auszeichungen der Bundesrepublik erhalten hat, sowie der TopoMetrix GmbH.

    Die Nanotechnologie beschäftigt sich mit der Erforschung millionstel Millimeter kleiner Materiebausteine und ihrer Struktur und gilt als eine der Technologien der Zukunft. Den Blick in diese normalerweise verborgene Welt ermöglichen die Rastersondenverfahren.
    Hier hat der Saarbrücker Experimentalphysiker Prof. Dr. Uwe Hartmann mit der Entwicklung des sog. Raster-SQUID-Mikroskops erstmals ermöglicht, Strukturen bis hin zu atomarer Größe zu untersuchen. Das neue Mikroskop kann einerseits kleinste Magnetfelder messen und die räumliche Struktur einer Oberfläche erkunden sowie andererseits Zusammenhänge zwischen der Struktur einer Oberfläche und ihren elektronischen und magnetischen Eigenschaften aufdecken.

    Sie haben noch Fragen? Dann setzen Sie sich bitte mit Herrn Prof. Dr. Uwe Hartmann in Verbindung: 0681 /302 - 3798 o. 3799

    Programm des Workshops am 01.10.1998,
    Campus Saarbrücken, Gebäude 22, Großer Hörsaal:

    9 Uhr: Begrüßung
    9.10 Uhr: Prof. Dr. H.-J. Güntherodt, Universität Basel:
    Fortschritte in der Rastersondenmikroskopie
    9.50 Uhr: Prof. Dr. H. Fuchs, Universität Münster:
    Nanotechnologie - Spitzentechnologie?
    10.30 Kaffeepause
    11 Uhr: Prof. Dr. U. Hartmann, Universität des Saarlandes:
    Einsatz von SQUIDs in der Rastersondenmikroskopie
    11.40 Uhr: Dr. P. Koschinski, TopoMetrix GmbH Darmstadt:
    Materialkontrast im Rasterkraftmikroskop mittels Wirbelstrommikroskopie
    12.20 Mittagspause
    14 Uhr: Prof. Dr. M.-Q. Li, Shanghai Institute of Nuclear Research
    Molecular Imaging and Molecular Manipulation
    14.40 Uhr: Prof. H. van Kempen, University of Nijmegen
    Electronic Structure of III-V Semiconductors observed by STM at Low Temperature
    15.20 Uhr Kaffeepause
    15.40 Uhr: Dr. L. Risch, Siemens AG München:
    Grundlegende Untersuchungen zum industriellen Einsatz von Einzelelektronen-Bauelementen
    16.20 Uhr Dr. G. Persch, IBM Mainz:
    Anwendungen von Rastersondenverfahren in der Magnetspeichertechnologie

    17 Uhr: Abschließende Diskussion


    More information:

    http://www.uni-saarland.de/matfak/fb10/hartmann/


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    Criteria of this press release:
    Materials sciences, Mathematics, Physics / astronomy
    transregional, national
    Miscellaneous scientific news/publications, Research projects, Scientific conferences
    German


     

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