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Nachrichten, Termine, Experten
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Mit den internationalen Normen IEC 61508 und IEC 61511 gewinnen Probabilistik und Deterministik stärkere Bedeutung in der Verfahrenstechnik und der Prozessleittechnik. Dem jeweils abzudeckenden Risiko werden Safety Integrety Level (SIL) zugeordnet, die mit quantitativen Anforderungen bezüglich gefährlicher Fehler (PFD, Lambda DU, lDU) verknüpft sind.
Für Feldgeräte (Sensoren, Aktoren) in Anlagen der Chemischen Industrie sind zuverlässige Fehlerraten wegen der unterschiedlichen Applikationen nur schwer zu ermitteln.
Stördatenerfassung und Stördatenauswertung, die NAMUR weit betrieben werden, helfen dabei. Bei Einsatz betriebsbewährter Geräte findet man in der VDI/VDE Richtlinie 2180 Musterrechnungen. Typicals für die Konfiguration einer PLT-Sicherheitseinrichtung (früher PLT-Schutzeinrichtung) und eine Standardgeräteliste runden das Bild ab.
Nutzt man diese Werkzeuge, so wird ein rechnerischer SIL-Nachweis leicht gemacht. Wie man all das in die Praxis umsetzt, wird in hier durch Anwendungsbeispiele und in Gruppenarbeit vermittelt.
Information on participating / attending:
Date:
03/15/2018 - 03/15/2018
Event venue:
DECHEMA-Haus
Theodor-Heuss-Allee 25
60486 Frankfurt
Hessen
Germany
Target group:
Scientists and scholars
Email address:
Relevance:
transregional, national
Subject areas:
Chemistry, Materials sciences, Mechanical engineering
Types of events:
Presentation / colloquium / lecture, Seminar / workshop / discussion
Entry:
12/05/2017
Sender/author:
Dr. Christine Dillmann
Department:
Öffentlichkeitsarbeit
Event is free:
no
Language of the text:
German
URL of this event: http://idw-online.de/en/event59188
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