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Nachrichten, Termine, Experten
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Mit den internationalen Normen IEC 61508 und IEC 61511 gewinnen Probabilistik und Deterministik stärkere Bedeutung in der Verfahrenstechnik und der Prozessleittechnik. Dem jeweils abzudeckenden Risiko werden Safety Integrety Level (SIL) zugeordnet, die mit quantitativen Anforderungen bezüglich gefährlicher Fehler (PFD, Lambda DU, lDU) verknüpft sind.
Für Feldgeräte (Sensoren, Aktoren) in Anlagen der Chemischen Industrie sind zuverlässige Fehlerraten wegen der unterschiedlichen Applikationen nur schwer zu ermitteln.
Stördatenerfassung und Stördatenauswertung, die NAMUR weit betrieben werden, helfen dabei. Bei Einsatz betriebsbewährter Geräte findet man in der VDI/VDE Richtlinie 2180 Musterrechnungen. Typicals für die Konfiguration einer PLT-Sicherheitseinrichtung (früher PLT-Schutzeinrichtung) und eine Standardgeräteliste runden das Bild ab.
Nutzt man diese Werkzeuge, so wird ein rechnerischer SIL-Nachweis leicht gemacht. Wie man all das in die Praxis umsetzt, wird in hier durch Anwendungsbeispiele und in Gruppenarbeit vermittelt.
Hinweise zur Teilnahme:
Termin:
15.03.2018
Veranstaltungsort:
DECHEMA-Haus
Theodor-Heuss-Allee 25
60486 Frankfurt
Hessen
Deutschland
Zielgruppe:
Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Chemie, Maschinenbau, Werkstoffwissenschaften
Arten:
Seminar / Workshop / Diskussion, Vortrag / Kolloquium / Vorlesung
Eintrag:
05.12.2017
Absender:
Dr. Christine Dillmann
Abteilung:
Öffentlichkeitsarbeit
Veranstaltung ist kostenlos:
nein
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event59188
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