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Neuartige ambitionierte Verbundsysteme lassen erhöhte Anforderungen an die Prüftechnologie entstehen, die mit den Prüfmethoden Thermografie und Shearografie bewältigt werden können. Aufgrund der Redundanz und der weitgehend komplementären Funktionsweise sowie Synergieeffekten beider Prüfverfahren zueinander liegt ein hohes Potential in der Kombination beider Methoden in einem Prüfsystem.
Die Methode der aktiven Thermografie beruht auf dem Prinzip, dass im Bauteil aktivierte Wärmeflüsse im Bereich von Inhomogenitäten ein von der fehlerfreien Umgebung abweichendes Temperaturfeld entwickeln, welches sich hochpräzise abbilden lässt. Mit der digitalen Shearografie können mechanisch oder thermisch aktivierte Verformungen durch die Erfassung von Weglängenänderungen von Laserstrahlen zwischen einem Objekt und einem Detektor flächenhaft ermittelt werden.
Die Kombination beider Methoden liefert gleichzeitig Informationen zu Wärmeflüssen und Verformungen und führt bei entsprechender Auswertung zu einem höheren Informationsgehalt. Falls ein Verfahren dann an seine Grenzen stößt, liefert die methodische Redundanz immer noch auswertbare Ergebnisse.
Ihr Ansprechpartner für weitere Informationen
Dipl.-Ing. Joachim Montnacher
Telefon +49 711 970-3712
Hinweise zur Teilnahme:
Termin:
03.05.2011 ab 09:00 - 06.05.2011 17:00
Veranstaltungsort:
Neue Messe Stuttgart
Halle 1, Stand 1502
70629 Stuttgart
Baden-Württemberg
Deutschland
Zielgruppe:
Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Maschinenbau, Wirtschaft
Arten:
(studentische) Informationsveranstaltung / Messe
Eintrag:
18.02.2011
Absender:
Hubert Grosser
Abteilung:
Presse- und Öffentlichkeitsarbeit
Veranstaltung ist kostenlos:
ja
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event34311
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