FORTBILDUNG: Einführung in die modernen Methoden der Gefügeanalyse für Ingenieure und Techniker

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26.03.2019 - 27.03.2019 | Saarbrücken

FORTBILDUNG: Einführung in die modernen Methoden der Gefügeanalyse für Ingenieure und Techniker

Diese Fortbildung richtet sich an alle Anwender der Gefügeanalyse in Qualitätskontrolle und Werkstoffentwicklung. Vorausgesetzt werden Grundkenntnisse der Werkstoffkunde. Alle methodischen Grundlagen der Gefügeanalyse werden erarbeitet und praxisorientiert vermittelt.

Das Gefüge, d.h. die Mikro- und Nanostruktur bestimmt die auftretenden Defekte und die Eigenschaften eines Werkstoffes. Daher liegt für alle Hersteller und Verarbeiter der Hauptfokus auf der Steuerung und Qualitätskontrolle der Gefügeausbildung eines Werkstoffes in immer engeren Toleranzgrenzen. Die quantitative Gefügeanalyse ist dafür als Kontrollinstrument unverzichtbar. Neben dem Routineeinsatz der Lichtmikroskopie ist eine entscheidende Entwicklung auf diesem Gebiet die Kombination der etablierten Kontraste der Rasterelektronenmikroskopie (REM) mit dem fokussierten Ionenstrahl (FIB). Diese ermöglicht eine extrem sensitive Analyse bei gleichzeitig genauer Zielpräparation.

Die Fortbildung beginnt mit einer kurzen Einführung in die Grundlagen der digitalen Bildanalyse in 2D und deren sinnvolle Übertragung in 3D-Informationen. Behandelt wird das REM und TEM mit allen relevanten Kontrastverfahren sowie die FIB-Technik. Die Gefügetomographie zur chemischen und strukturellen 3D-Analyse in Mikro-, Nano- und atomaren Dimensionen, wie Serienschnitte und REM/FIB-Tomographie sowie die Atomsondentomographie werden praxisorientiert und am Gerät verdeutlicht. Abgerundet wird die Fortbildung durch Vorträge von Experten zu den Möglichkeiten der angrenzenden Techniken wie Nano-SIMS und Röntgen-Computer-Tomographie.

Option 1 (25.03.2019 - gesonderte Anmeldung erforderlich):
Für Teilnehmer, die keinerlei Erfahrung am Elektronenmikroskopie und Focused Ion Beam haben, bieten wir am Vortag eine praktische Einführung am Mikroskop an. Vermittelt wird der allgemeine Umgang und Basiswissen zur Arbeit am Elektronen-/Ionenmikroskop.

Option 2 (28.03.2019 - gesonderte Anmeldung erforderlich):
Individuelle Probenberatung und -Untersuchung:Gerne können eigene Proben mitgebracht und als optionaler Teil der Fortbildungam dritten Tag mit Experten-Unterstützung am REM/FIB untersucht werden..

Das Fortbildung steht unter der fachlichen Leitung von:
Univ. Prof. Dr.-Ing. Frank Mücklich, Universität des Saarlandes und Leiter des
Material Engineering Center Saarland (MECS) in Saarbrücken.

Weitere Informationen zur Veranstaltung und Anmeldung unter: https://www.dgm.de/index.php?id=1523&pk_campaign=FB-IDW2019

Hinweise zur Teilnahme:
DGM-Mitglied: 1.225 €
Persönliches DGM-Mitglied | Mitarbeiter/-in eines DGM-Mitgliedsunternehmens /-institutes.

DGM-Nachwuchsmitglied (<30 Jahre): 675 €
Persönliches DGM-Mitglied | Mitarbeiter/-in eines DGM-Mitgliedsunternehmens /-institutes.

Regulär: 1.300 €

Regulär Nachwuchsteilnehmer (<30 Jahre): 750 €

Teilnahmepreise inkl. 19% MwSt.
Enthalten sind Unterlagen, Getränke, Mittagessen und ein Abendessen.

Nachwuchsplätze werden nur vergeben, wenn die Veranstaltung nicht voll ausgelastet ist. Spätestens 3 Wochen vor Veranstaltungsbeginn erhalten die angemeldeten Nachwuchsteilnehmer eine Mitteilung, ob die Teilnahme möglich ist. Bei großer Nachfrage wird bei der Platzvergabe das DGM-Nachwuchsmitglied bevorzugt.

Termin:

26.03.2019 - 27.03.2019

Anmeldeschluss:

31.01.2019

Veranstaltungsort:

Lehrstuhl für Funktionswerkstoffe, Universität des Saarlands
Saarbrücken
Saarland
Deutschland

Zielgruppe:

Wissenschaftler

E-Mail-Adresse:

Relevanz:

überregional

Sachgebiete:

Werkstoffwissenschaften

Arten:

Seminar / Workshop / Diskussion

Eintrag:

16.08.2016

Absender:

Dipl.-Ing. Fahima Fischer

Abteilung:

Pressereferat

Veranstaltung ist kostenlos:

nein

Textsprache:

Deutsch

URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event55082

Anhang
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