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25.04.2017 - 26.04.2017 | Halle (Saale)

Innovation in Failure Analysis and Material Diagnostics of Electronics Components

Rund 150 internationale Spitzenforscher und Experten aus der Industrie präsentieren am 26. und 27. April 2017 in einem Workshop am Fraunhofer-Center für angewandte Mikrodiagnostik CAM in Halle (Saale) neue Ergebnisse und Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit von mikroelektronischen Bauteilen. Gleichzeitig erfolgt der Startschuss für den Erweiterungsbau des Fraunhofer CAM.

Hinweise zur Teilnahme:
Die Teilnahmegebühr beträgt 150 Euro. Weitere Hinweise zur Registrierung: http://www.cam-workshop.de/registration

Termin:

25.04.2017 ab 09:00 - 26.04.2017 17:00

Anmeldeschluss:

21.04.2017

Veranstaltungsort:

Fraunhofer-Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM, Heideallee 19, 06120 Halle (Saale)
und Leibniz-Institut für Agrarentwicklung in Transformationsökonomien (IAMO), Theodor-Lieser-Str. 2, 06120 Halle (Saale)
Halle (Saale)
Sachsen-Anhalt
Deutschland

Zielgruppe:

Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler

Relevanz:

überregional

Sachgebiete:

Elektrotechnik, Informationstechnik, Werkstoffwissenschaften

Arten:

Seminar / Workshop / Diskussion

Eintrag:

12.04.2017

Absender:

Michael Kraft

Abteilung:

Presse- und Öffentlichkeitsarbeit

Veranstaltung ist kostenlos:

nein

Textsprache:

Deutsch

URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event57234


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