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04.05.2004 - 05.05.2004 | München
Dieses zweitägige Seminar richtet sich an STN-Nutzer, die schon über grundlegende Vorkenntnisse im Recherchieren und im Patentbereich verfügen. Optimal wäre es, wenn Sie vorher schon das Seminar "Recherchieren Basis und "Einführung in das Patentwesen" besucht hätten. Sie lernen die Datenbankinhalte und den Aufbau der STN-Patendatenbanken besser kennen, um Ihre Recherchen zu optimieren. Schwerpunkte des Seminars sind Recherchen zum Stand der Technik, Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder), Suche nach Patent-, Anmelde-und Prioritätsnummern, Patentstatistik/Patentgraphiken, Benutzung der internationalen Patentklassifizierung, Konkurrenzüberwachung und SDI. Sie erhalten ausreichend die Möglichkeit das Erlernte online zu üben.
Hinweise zur Teilnahme:
Termin:
04.05.2004 ab 09:00 - 05.05.2004
Veranstaltungsort:
TWT AG (Technologie- und Wissenstransfer AG)
Schachenmeierstraße 35
80636 München
Bayern
Deutschland
Zielgruppe:
Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Wirtschaft
Arten:
Eintrag:
21.01.2004
Absender:
Rüdiger Mack
Abteilung:
Marketingkommunikation
Veranstaltung ist kostenlos:
unbekannt
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event10331
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