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Veranstaltung


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03.11.2011 - 03.11.2011 | Friedrichshafen

White-Spot-Analyse - Mit Patenten Innovationsnischen identifizieren

Patente bieten nicht nur einen rechtlichen Schutz vor Wettbewerbern, sondern repräsentieren auch umfassend den Stand der Technik in einem Technologiefeld. Im Rahmen der Veranstaltung erfahren die Teilnehmer, mit welchen Methoden und text-mining-basierten Werkzeugen sie Patentinformationen nutzen können, um über den Stand der Technik hinaus Ideen für eigene Weiter- und Neuentwicklungen zu generieren.

EFTEK

Die nachhaltige Vernetzung mit Partnern aus Wirtschaft und Wissenschaft ist eine wichtige Voraussetzung, um dauerhaft Spitzenleistungen erbringen zu können. Die flexible und wirkungsvolle Verknüpfung von Kompetenzen ist auch maßgeblich für die Kooperation des Fraunhofer IAO mit der Zeppelin Universität (ZU) in Friedrichshafen. Das gemeinsame Zentrum Technologiemanagement – EFTEK unterstützt Unternehmen in der Bodenseeregion mit einem umfassenden Dienstleistungsangebot bei Fragen rund um die Früherkennung und Bewertung technologischer Zukunftstrends sowie bei der Entwicklung von Technologiestrategien für die Innovationen von morgen.

Hinweise zur Teilnahme:
Teilnahmegebühr
Die Teilnahmegebühr beträgt 50 €.

Termin:

03.11.2011 15:00 - 18:00

Veranstaltungsort:

Zeppelin-Universität Friedrichshafen, Am Seemoser Horn 20, 88045 Friedrichshafen, Hörsaal LZ 2
88045 Friedrichshafen
Baden-Württemberg
Deutschland

Zielgruppe:

Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler

Relevanz:

überregional

Sachgebiete:

Wirtschaft

Arten:

Konferenz / Symposion / (Jahres-)Tagung

Eintrag:

22.06.2011

Absender:

Claudia Garád

Abteilung:

Presse- und Öffentlichkeitsarbeit

Veranstaltung ist kostenlos:

nein

Textsprache:

Deutsch

URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event35873


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