idw – Informationsdienst Wissenschaft
Nachrichten, Termine, Experten
Nachrichten, Termine, Experten
idw - Informationsdienst
Wissenschaft
26.03.2019 - 27.03.2019 | Saarbrücken
Das Gefüge, d.h. die Mikro- und Nanostruktur bestimmt die auftretenden Defekte und die Eigenschaften eines Werkstoffes. Daher liegt für alle Hersteller und Verarbeiter der Hauptfokus auf der Steuerung und Qualitätskontrolle der Gefügeausbildung eines Werkstoffes in immer engeren Toleranzgrenzen. Die quantitative Gefügeanalyse ist dafür als Kontrollinstrument unverzichtbar. Neben dem Routineeinsatz der Lichtmikroskopie ist eine entscheidende Entwicklung auf diesem Gebiet die Kombination der etablierten Kontraste der Rasterelektronenmikroskopie (REM) mit dem fokussierten Ionenstrahl (FIB). Diese ermöglicht eine extrem sensitive Analyse bei gleichzeitig genauer Zielpräparation.
Die Fortbildung beginnt mit einer kurzen Einführung in die Grundlagen der digitalen Bildanalyse in 2D und deren sinnvolle Übertragung in 3D-Informationen. Behandelt wird das REM und TEM mit allen relevanten Kontrastverfahren sowie die FIB-Technik. Die Gefügetomographie zur chemischen und strukturellen 3D-Analyse in Mikro-, Nano- und atomaren Dimensionen, wie Serienschnitte und REM/FIB-Tomographie sowie die Atomsondentomographie werden praxisorientiert und am Gerät verdeutlicht. Abgerundet wird die Fortbildung durch Vorträge von Experten zu den Möglichkeiten der angrenzenden Techniken wie Nano-SIMS und Röntgen-Computer-Tomographie.
Option 1 (25.03.2019 - gesonderte Anmeldung erforderlich):
Für Teilnehmer, die keinerlei Erfahrung am Elektronenmikroskopie und Focused Ion Beam haben, bieten wir am Vortag eine praktische Einführung am Mikroskop an. Vermittelt wird der allgemeine Umgang und Basiswissen zur Arbeit am Elektronen-/Ionenmikroskop.
Option 2 (28.03.2019 - gesonderte Anmeldung erforderlich):
Individuelle Probenberatung und -Untersuchung:Gerne können eigene Proben mitgebracht und als optionaler Teil der Fortbildungam dritten Tag mit Experten-Unterstützung am REM/FIB untersucht werden..
Das Fortbildung steht unter der fachlichen Leitung von:
Univ. Prof. Dr.-Ing. Frank Mücklich, Universität des Saarlandes und Leiter des
Material Engineering Center Saarland (MECS) in Saarbrücken.
Weitere Informationen zur Veranstaltung und Anmeldung unter: https://www.dgm.de/index.php?id=1523&pk_campaign=FB-IDW2019
Hinweise zur Teilnahme:
DGM-Mitglied: 1.225 €
Persönliches DGM-Mitglied | Mitarbeiter/-in eines DGM-Mitgliedsunternehmens /-institutes.
DGM-Nachwuchsmitglied (<30 Jahre): 675 €
Persönliches DGM-Mitglied | Mitarbeiter/-in eines DGM-Mitgliedsunternehmens /-institutes.
Regulär: 1.300 €
Regulär Nachwuchsteilnehmer (<30 Jahre): 750 €
Teilnahmepreise inkl. 19% MwSt.
Enthalten sind Unterlagen, Getränke, Mittagessen und ein Abendessen.
Nachwuchsplätze werden nur vergeben, wenn die Veranstaltung nicht voll ausgelastet ist. Spätestens 3 Wochen vor Veranstaltungsbeginn erhalten die angemeldeten Nachwuchsteilnehmer eine Mitteilung, ob die Teilnahme möglich ist. Bei großer Nachfrage wird bei der Platzvergabe das DGM-Nachwuchsmitglied bevorzugt.
Termin:
26.03.2019 - 27.03.2019
Anmeldeschluss:
31.01.2019
Veranstaltungsort:
Lehrstuhl für Funktionswerkstoffe, Universität des Saarlands
Saarbrücken
Saarland
Deutschland
Zielgruppe:
Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Werkstoffwissenschaften
Arten:
Seminar / Workshop / Diskussion
Eintrag:
16.08.2016
Absender:
Dipl.-Ing. Fahima Fischer
Abteilung:
Pressereferat
Veranstaltung ist kostenlos:
nein
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event55082
FLYER 2019 Sie können Suchbegriffe mit und, oder und / oder nicht verknüpfen, z. B. Philo nicht logie.
Verknüpfungen können Sie mit Klammern voneinander trennen, z. B. (Philo nicht logie) oder (Psycho und logie).
Zusammenhängende Worte werden als Wortgruppe gesucht, wenn Sie sie in Anführungsstriche setzen, z. B. „Bundesrepublik Deutschland“.
Die Erweiterte Suche können Sie auch nutzen, ohne Suchbegriffe einzugeben. Sie orientiert sich dann an den Kriterien, die Sie ausgewählt haben (z. B. nach dem Land oder dem Sachgebiet).
Haben Sie in einer Kategorie kein Kriterium ausgewählt, wird die gesamte Kategorie durchsucht (z.B. alle Sachgebiete oder alle Länder).
