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19.08.1999 16:40

Nanotechnologie: Weltweit einmaliges Großgerät eröffnet neue Wege der Kooperation

Claudia Brettar Pressestelle der Universität des Saarlandes
Universität des Saarlandes

    Der Arbeitsgruppe um den Saarbrücker Experimentalphysiker Professor Uwe Hartmann steht jetzt ein neues Großgerät für die Nanostrukturforschung mit einem Beschaffungsvolumen von
    rund 1,8 Millionen Mark zur Verfügung.
    Das Gerät wurde im Rahmen der Forschungskooperation mit
    dem Forschungszentrum Jülich nach Saarbrücken gebracht.

    In Sachen Nanotechnologie wurde an der Saar-Uni jetzt eine weitere Basis für erfolgreiche Forschungs- und Entwicklungsprojekte sowie Kooperationen - vor allem auch mit der Wirtschaft - geschaffen:

    Die Arbeitsgruppe um den Experimentalphysiker und Experten für Nanoskopie, Professor Uwe Hartmann, nimmt dieser Tage ein weltweit einmaliges Großgerät in Betrieb, das drei Mikroskopieverfahren in sich vereinigt.
    Die auf der Grundlage der Forschungsergebnisse der Saarbrücker Wissenschaftler maßgeschneiderte Apparatur kombiniert Rasterelektronenmikroskop und Rasterkraftmikroskop mit dem Rastertunnelmikroskop unter Ultrahochvakuumbedingungen.
    Diese Bündelung der Verfahren ermöglicht es, Proben ganzheitlich und unter verschiedensten Gesichtspunkten zu untersuchen.

    Insbesondere für die Halbleiter- und Mikroelektronikindustrie eröffnen sich hierdurch interessante Aussichten - vor allem was den Trend zur Miniaturisierung technischer Geräte angeht:
    Aufgrund der jetzt in Saarbrücken vorhandenen technischen Infrastruktur bieten sich völlig neuartige Möglichkeiten bei der Entwicklung nanotechnologischer Bauelemente, die eine Größe von nur millionstel Millimetern haben, und in einigen Jahren die heute in Chips verwendeten elektronischen Bauteile ersetzen werden.

    Das Großgerät mit einem Beschaffungsvolumen von rund 1,8 Millionen Mark wurde der Arbeitsgruppe von Prof. Hartmann im Rahmen einer Kooperation mit dem Forschungszentrum Jülich zur Verfügung gestellt.
    Die damit verbundene erhebliche finanzielle Unterstützung ist auf die bislang schon außerordentlich erfolgreichen wissenschaftlichen Kooperationen zwischen Saarbrücken und Jülich zurückzuführen.

    Im Bereich der Nanotechnologie und Nanostrukturforschung gehört die Universität des Saarlandes zu den international führenden Forschungsstandorten. So ist die Arbeitsgruppe von Prof. Uwe Hartmann auch maßgeblich beteiligt am bundesdeutschen Kompetenzzentrum für Nanoanalytik.
    Das neue Großgerät sichert diese hohe Qualität der Saarbrücker Forschung und baut ihre Spitzenposition im weltweiten Wettlauf um nanotechnologische Errungenschaften aus.

    Hintergrund zu Nanotechnologie:

    Gegenstand der Nanotechnologie (NT) sind Phänomene, die in "nanoskaligen" Dimensionen auftreten, also im Bereich kleinster Strukturen der Größe von millionstel Millimetern.
    Die Anwendungen der NT erstrecken sich quer durch alle Disziplinen und Branchen - von der DNA-Analyse über selbstreinigende Glasscheiben bis hin zu Computerchips, Automobilbau oder Qualitäts- und Sicherheitskontrolle. Schon heute gibt es marktreife Produkte; in den kommenden Jahrzehnten wird die Nanoforschung Experten zufolge die Industrie revolutionieren.
    Einen wesentlichen Beitrag für die weitere Optimierung der Rastersondentechnik leistete Prof. Uwe Hartmann mit der Entwicklung des Raster-Squid-Mikroskops, das ebenfalls aus einer Forschungskooperation des Forschungszentrums Jülich und der Saar-Uni hervorging: Insbesondere auch für diese Arbeit wurde Prof. Hartmann mit dem Philip Morris Forschungspreis 1998, einem der höchstdotierten Forschungspreise der Bundesrepublik, ausgezeichnet.

    Drei Fotografien/Mikroskop-Aufnahmen auf Datenbasis (hierzu unten) und weitere Informationen sind im Presse- und Informationszentrum der Universität erhältlich
    Fon: 0681/302-3601
    Fax: 0681/302-2609
    E-Mail: presse.brettar@univw.uni-sb.de

    Abbildung I zeigt eine Gesamtansicht der Apparatur, wobei im rechten Bereich die Säule des Feldemissions-Elektronenmikroskops sichtbar ist, welches in Kombination mit Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopen betrieben werden kann.

    Abbildung II zeigt Ergebnisse aus der Analyse einer Dünnschichtstruktur für die Herstellung eines elektronischen Bauelementes. Im linken Bildbereich sieht man in einem elektronenmikroskopischen Bild die Spitze des Rastertunnelmikroskops, die über dem Zentrum einer "Mikrobrücke" positioniert wurde. Der rechte Bildteil zeigt die mit dieser Spitze aufgenommene Struktur der aus Silber bestehenden Mikrobrücke auf einem Silicium-Wafer. Die rastertunnelmikroskopische Aufnahme zeigt deutlich die granulare Zusammensetzung des Silberfilmes.

    Abbildung III (Kann über die Pressestelle der Saar-Uni bezogen werden) zeigt weitere Details aus der atomaren Struktur eines Silberfilms, die erst in einer hochauflösenden rastertunnelmikroskopischen Aufnahme sichtbar werden. Die terrassenförmige Struktur kommt durch monoatomare Stufen im Silberfilm zustande.


    Bilder

    Abbildung I zeigt eine Gesamtansicht der Apparatur, wobei im rechten Bereich die Säule des Feldemissions-Elektronenmikroskops sichtbar ist, welches in Kombination mit Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopen betrieben werden kann.
    Abbildung I zeigt eine Gesamtansicht der Apparatur, wobei im rechten Bereich die Säule des Feldemiss ...

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    Abbildung II zeigt Ergebnisse aus der Analyse einer Dünnschichtstruktur für die Herstellung eines elektronischen Bauelementes. (Genauere Beschreibung am Ende des Textes der Pressemitteilung)
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    Merkmale dieser Pressemitteilung:
    Biologie, Chemie, Elektrotechnik, Energie, Informationstechnik, Mathematik, Physik / Astronomie, Werkstoffwissenschaften
    überregional
    Forschungsprojekte, Organisatorisches
    Deutsch


     

    Abbildung I zeigt eine Gesamtansicht der Apparatur, wobei im rechten Bereich die Säule des Feldemissions-Elektronenmikroskops sichtbar ist, welches in Kombination mit Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopen betrieben werden kann.


    Zum Download

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    Abbildung II zeigt Ergebnisse aus der Analyse einer Dünnschichtstruktur für die Herstellung eines elektronischen Bauelementes. (Genauere Beschreibung am Ende des Textes der Pressemitteilung)


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