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28.06.2000 18:32

Ultrafeinfokus - Röntgentechnik in Fürth: Ein neues Projekt des Fraunhofer-Instituts IIS-A

Elvira Gerhäuser Unternehmenskommunikation
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS

    Einweihung: Dienstag, 4. Juli 2000, 17:30 Uhr
    Technikum Fürth - Neue Materialien, Dr.-Mack-Str. 81

    Mit der Gründung der Betriebsgesellschaft - Neue Materialien Fürth GmbH - Anfang Mai, wird jetzt eine vielversprechende wirtschaftliche Entwicklung auf dem ehemaligen Grundig-Areal fortgesetzt.
    »Dank der Unterstützung des Freistaates Bayern und der Stadt Fürth wird mit dem Thema Ultrafeinfokus - Röntgentechnologie des Fraunhofer-Instituts im Technikum Fürth ein weiterer Meilenstein zur Förderung der Region Nürnberg gesetzt«, so der Institutsleiter Prof. Heinz Gerhäuser.
    Gefeiert wird die Einweihung im Beisein von
    Dr. Otto Wiesheu, Staatsminister für Wirtschaft, Verkehr und Tech-nologie, Wilhelm Wenning, Oberbürgermeister der Stadt Fürth, Dr. Hans-Ulrich Wiese, Vorstandsmitglied der Fraunhofer-Gesellschaft sowie Manfred Bartl, Grundig Vorstandsmitglied.
    Herzlichst eingeladen sind die Vertreterinnen und Vertreter der Me-dien zur Einweihungsfeier mit Besichtigungen, Imbiss sowie Fachvor-trägen.
    Der Leiter, Dr. Randolf Hanke und seine Mitarbeiter führen durch die Räume. Unter anderem ist der 110 Tonnen schwere Strahlenraum mit einem der modernsten Röntgentomographen zu besichtigen. Dieses Gerät ist zur Zeit der schnellste industrielle Computerto-mograph der Welt.

    Mit der neuen Einrichtung Ultrafeinfokus-Röntgentechno-logie des Fraunhofer-Instituts für Integrierte Schaltungen stehen der produzie-renden Industrie in der Region modernste Geräte zur zerstörungs-freien Materialprüfung zur Verfügung. Insbesondere der klein- und mittelständischen Industrie werden zur schnellen Qualitätssicherung dadurch Verfahren zugänglich gemacht, die sich auf dem neuesten Stand der Technik befinden.
    Zu den Aufgaben gehören unter anderem die 3D-Röntgeninspektion z.B. an Leichtmetall Gussteilen, die Prüfung elektroni-scher Flachbaugruppen und die industrielle Computertomographie. Auch Lebensmittel können zuverlässig auf Verunreinigungen untersucht werden.
    Ziel ist es, auch kleinste Materialfehler (mit Ausdehnungen im Bereich einiger hundert Nanometer - das ist hundert mal kleiner als ein menschliches Haar) in elektronischen Komponenten nachzuweisen.

    Das Projekt ist Ergebnis der erfolgreichen mehrjährigen Zusammenarbeit von zwei Fraunhofer-Instituten; Integrierte Schaltungen, Bereich Angewandte Elektronik IIS-A in Erlangen und Zerstörungsfreie Prüf-verfahren IZFP in Saarbrücken.


    Bilder

    Merkmale dieser Pressemitteilung:
    Elektrotechnik, Energie, Mathematik, Physik / Astronomie, Werkstoffwissenschaften, Wirtschaft
    überregional
    Buntes aus der Wissenschaft
    Deutsch


     

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