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Für ihren Beitrag "Reinvestigation of the M-spectra of heavy elements - Part one: the element 92Uranium" erhielten Prof. Michael Wendt, Dr. Jan Dellith und Andy Scheffel aus dem IPHT Jena den zweiten Preis beim diesjährigen 11th EUROPEAN WORKSHOP on MODERN DEVELOPEMENTS and APPLICATIONS in MICROBEAM ANALYSIS" der EMAS (European Microbeam Analysis Society). Die dieses Jahr in Danzig (Gdansk, Pl) abgehaltene Tagung gilt als eine der bedeudensten europäischen Veranstaltungen auf dem Gebiet der Elekronenstrahlmethoden und Röntgen-Mikroanalyse.
Das internationale wissenschaftliche Komitee würdigte den Posterbeitrag der Mitarbeiter des Instituts für Photonische Technologien (IPHT) aus insgesamt 70 Beiträgen der ca. 150 Teilnehmer. Der Preis ist mit einem symbolischen Geldbetrag verbunden.
Wendt und Dellith befassen sich in der Arbeit mit der Untersuchung weicher Röntgenemissionsspektren u.a. als Grundlage für die Werkstoffanalytik. Anhand dieser Spektren lässt sich eine Art elementspezifischer Fingerabdruck ermitteln, der z. B. Informationen über die zweifelsfreie Zusammensetzung von Werkstoffen gibt.
Die Arbeiten zum Element Uran, dem schwersten natürlichen Element, sind Teil einer systematischen Untersuchung der M-Spektren der ultraschweren Elemente. Die Arbeiten erfolgten in Kooperation mit Kollegen der Bruker AXS GmbH (Berlin).
Ihr Ansprechpartner:
Dr. Jan Dellith
Abteilung Spektroskopie/ Mikroskopie
Telefon +49 (0) 3641 206-104
Telefax +49 (0) 3641 206-139
jan.dellith@ipht-jena.de
Urkunde für den pramierten Beitrag von Dr. Jan Dellith und Prof. Michael Wendt
Quelle: Dellith/IPHT
Merkmale dieser Pressemitteilung:
Physik / Astronomie, Werkstoffwissenschaften
regional
Forschungsergebnisse, Wettbewerbe / Auszeichnungen
Deutsch
Urkunde für den pramierten Beitrag von Dr. Jan Dellith und Prof. Michael Wendt
Quelle: Dellith/IPHT
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