idw – Informationsdienst Wissenschaft

Nachrichten, Termine, Experten

Grafik: idw-Logo
Science Video Project
idw-Abo

idw-News App:

AppStore

Google Play Store



Instanz:
Teilen: 
20.04.2001 11:22

Humboldt-Universität auf der Hannover-Messe 2001

Heike Zappe Kommunikation, Marketing und Veranstaltungsmanagement
Humboldt-Universität zu Berlin

    Sie finden uns: 23.-28. April 2001, Halle 18, Stand L 15

    Auf der diesjährigen Hannover-Messe, die vom 23.-28. April 2001 stattfindet, ist die Humboldt-Universität zu Berlin durch Wissenschaftler des Instituts für Physik vertreten.

    Die Entwicklung und Anwendung diffraktiver optischer Elemente wird mit dem Exponat "Holographie aus dem Computer" vorgestellt. Die phasenmodulierenden Eigenschaften von Flüssigkristallen ermöglichen die Manipulation von Laserlicht. Durch genaue Kenntnis der Modulationscharakteristik und Ansteuerung im Videotakt können Gitter, Strahlteiler und Hologramme mittels 2D-Displays dynamisch adressiert werden. Die Modulation erzeugt also im Gegensatz zu scannenden Verfahren ein variables aber zeitlich stabiles Beugungsmuster. Hier ergeben sich Möglichkeiten für die Technologiebereiche Kommunikation, Materialbearbeitung, Technische Optik aber auch für mediale Bereiche, wie die Veranstaltungstechnik, sowie für interferometrische berührungslose Messverfahren.

    Aussteller: PD Dr. Günther Wernicke, Ansprechpartner: Sven Krüger
    Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik , Unter den Linden 6, 10099 Berlin, Sitz: Invalidenstraße 110, 10115 Berlin, Tel.: +49 (30) 2093-7916, Fax.: +49 (30) 2093-7897,
    E-Mail: skrueger@physik.hu-berlin.de


    Das Exponat "Rastersondenmikroskopie (RMS) - Amplituden- und Phasendetektor" wird von einem jungen studentischen Unternehmen präsentiert. Dieses Unternehmen hat seinen Ursprung ebenfalls am Institut für Physik und beschäftigt sich mit der Entwicklung von Zusatzgeräten für die Rastersondenmikroskopie. Auf der Messe stellt es einen neuen Amplituden- und Phasendetektor mit integriertem digitalen Funktionsgenerator vor, wie er für dynamische Moden bei der Raster-Sonden-Mikroskopie (RSM) benötigt wird. Die Bandbreite des Gerätes reicht bis 1MHz und stellt für die
    Nutzung in der RSM eine preiswerte Alternative zu herkömmlichen Lock-In-Verstärkern dar. Das Ausgangssignal des Detektors kann z.B. zur präzisen Abstandsregelung zwischen Messsonde und Probenoberfläche genutzt werden. Auf Wunsch kann die Bestimmung der Cantileverresonanz automatisch durchgeführt werden. Die Amplitude des Eingangssignals ist mit einer Genauigkeit
    von 1,2 mV bestimmbar.

    Aussteller: JPK Instruments AG, Ansprechpartner: Jörn Kamps
    Anschrift: Invalidenstraße 110, 10115 Berlin, Tel.: +49 (30) 2093-7905, Fax.: +49 (30) 2093-7692, E-mail: office@jpk-instrumens.de


    Weitere Informationen:

    http://www.hu-berlin.de/forschung/messen/mv_2001.htm
    http://www.hannovermesse.de


    Bilder

    Merkmale dieser Pressemitteilung:
    Mathematik, Physik / Astronomie
    überregional
    Buntes aus der Wissenschaft, Forschungsergebnisse
    Deutsch


     

    Hilfe

    Die Suche / Erweiterte Suche im idw-Archiv
    Verknüpfungen

    Sie können Suchbegriffe mit und, oder und / oder nicht verknüpfen, z. B. Philo nicht logie.

    Klammern

    Verknüpfungen können Sie mit Klammern voneinander trennen, z. B. (Philo nicht logie) oder (Psycho und logie).

    Wortgruppen

    Zusammenhängende Worte werden als Wortgruppe gesucht, wenn Sie sie in Anführungsstriche setzen, z. B. „Bundesrepublik Deutschland“.

    Auswahlkriterien

    Die Erweiterte Suche können Sie auch nutzen, ohne Suchbegriffe einzugeben. Sie orientiert sich dann an den Kriterien, die Sie ausgewählt haben (z. B. nach dem Land oder dem Sachgebiet).

    Haben Sie in einer Kategorie kein Kriterium ausgewählt, wird die gesamte Kategorie durchsucht (z.B. alle Sachgebiete oder alle Länder).