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17.11.2015 17:08

Schichten statt Mischen

Dipl.-Biologin Annette Stettien Unternehmenskommunikation
Forschungszentrum Jülich

    Jülich-Aachener Forscherteam verbessert Energieeffizienz topologischer Isolatoren

    Jülich, 17. November 2015 – Eine zu starke Erwärmung von Computerchips ist ein großes Hindernis für die Entwicklung schnellerer und leistungsfähigerer Rechner und Mobiltelefone. Abhilfe verspricht eine erst vor wenigen Jahren entdeckte Materialklasse: topologische Isolatoren, die Strom mit geringerem Widerstand und weniger Wärmeentwicklung leiten als herkömmliche Materialien. Ein Team aus Jülich und Aachen hat eine Möglichkeit gefunden, die gewünschten Leitungseigenschaften solcher Materialien genauer und zuverlässiger einzustellen als es bisher möglich war (Nature Communications).

    So genannte „to¬po¬lo¬gische“ Materialien besitzen an ihren Oberflächen andere physikalische Eigenschaften als im Inneren. Topologische Isolatoren sind im Materialinneren praktisch Isolatoren, aber an ihren Oberflächen und Rändern leiten sie elektrischen Strom fast wie auf Schienen: schneller, mit geringerem Widerstand und weniger Wärmeentwicklung als herkömmliche Materialien. Zusätzlich fungieren die Schienen für Elektronen als Einbahnstraßen. Der Eigendrehimpuls der Elektronen – der sogenannte Spin – bestimmt, in welche Richtung die Elektronen fließen können. Auch diese Materialeigenschaft ist nützlich für die Informationsverarbeitung und könnte die Entwicklung neuer spintronischer Bauelemente ermöglichen.

    Forscher des Jülicher Peter Grünberg Instituts und der RWTH Aachen zeigten nun, wie sich die Leitfähigkeit und der Energiebedarf dieser Materialien optimieren lassen. Ihr Erfolgsrezept lautet stark vereinfacht: schichten statt mischen. Prof. Detlev Grützmacher vom Peter Grünberg Institut hatte die entscheidende Idee: „Anstatt zwei Halbleiter unterschiedlichen Typs wie üblich zu legieren, um daraus einen topologischen Isolator zu gewinnen, haben wir mittels Molekularstrahlepitaxie beide Halbleiter Atomschicht für Atomschicht aufeinander geschichtet, dies wiederum auf einer Siliziumträgerschicht.“ Molekularstrahlepitaxie ist eine hochpräzise Methode, dünne kristalline Schichten herzustellen, und wird zunehmend nicht mehr nur in der Forschung sondern auch zur industriellen Produktion von Halbleiterstrukturen eingesetzt.

    Auf diese Weise konnten die Forscher den atomaren Aufbau exakt kontrollieren, was sie mit ultrahochauflösender Elektronenmikroskopie dokumentierten. „Die perfekte atomare Zusammensetzung topologischer Isolatoren ist ganz entscheidend für die elektronischen Eigenschaften und damit die Energieeffizienz, aber bei Legierungen nur schwer kontrollierbar“, erläutert Dr. Lukasz Plucinski vom Peter Grünberg Institut.

    Welche Schichtdicken mit optimalen Leitungseigenschaften einhergehen, fanden die Forscher mit der Technik der winkelaufgelösten Photoemissionsspektroskopie heraus. Dabei werden Proben mit Photonen beschossen, die Elektronen aus dem Material herauslösen. Deren Energie und Austrittswinkel werden gemessen und geben Auskunft über die Energie und die Verteilung der Elektronen an der Oberfläche der Probe.

    Topologische Isolatoren können grundsätzlich auch mit Hilfe externer elektrischer Felder in Halbleiterlegierungen und anderen Materialien erzeugt werden. Bei der Sandwichmethode, die die Wissenschaftler im Rahmen der Jülich Aachen Research Alliance, Sektion „Future Information Technology“, gemeinsam entwickelt haben, ist dieser technische Aufwand unnötig und das Trägermaterial Silizium vereinfacht eine spätere Integration in Anwendungen.

    Im vom Jülicher Peter Grünberg Institut koordinierten Virtuellen Institut für topologische Isolatoren (VITI) erforschen Wissenschaftler darüber hinaus weitere Nutzungsmöglichkeiten des neuen Materials in der Grundlagenforschung. So könnte es zum Beispiel den Nachweis neuer bisher nur theoretisch vorhergesagter Quantenphänomene ermöglichen, etwa von Quasipartikeln aus Elektronen und Leitungslöchern, die ein so genanntes topologisches Exziton-Kondensat bilden.

    Originalveröffentlichung:
    Realization of a vertical topological p-n junction in epitaxial Sb2Te3/Bi2Te3 heterostructures;
    Markus Eschbach, Ewa Mlynczak, Jens Kellner, Jörn Kampmeier, Martin Lanius, Elmar Neumann, Christian Weyrich, Mathias Gehlmann, Pika Gospodaric, Sven Döring, Gregor Mussler, Nataliya Demarina, Martina Luysberg, Gustav Bihlmayer, Thomas Schäpers, Lukasz Plucinski, Stefan Blügel, Markus Morgenstern, Claus M. Schneider, Detlev Grützmacher;
    Nature Communications (2015), DOI: 10.1038/ncomms9816

    Weitere Informationen:
    Forschungszentrum Jülich: www.fz-juelich.de
    Pressemitteilung vom 29.2.2012 „Schienen für elektrischen Strom“: www.fz-juelich.de/SharedDocs/Pressemitteilungen/UK/DE/2012/12-06-29Virtuelles_Institut.html?nn=570024
    Pressemitteilung vom 18.8.2011 „Blick in bisher ungeahnte Tiefen“: www.fz-juelich.de/SharedDocs/Pressemitteilungen/UK/DE/2011/11-08-18photoemissionsspektroskopie.html
    Pressemitteilung vom 12.2.2009: „“Science": Neuartiger Quanteneffekt direkt beobachtet und erklärt“: www.fz-juelich.de/SharedDocs/Pressemitteilungen/UK/DE/2009/index1d0f_htm.html?nn=719084
    Peter Grünberg Institut – Quanten-Theorie der Materialien (PGI-1): www.fz-juelich.de/pgi/pgi-1/DE/Home/home_node.html
    Peter Grünberg Institut – Theoretische Nanoelektronik (PGI-2): www.fz-juelich.de/pgi/pgi-2/DE/Home/home_node.html
    Peter Grünberg Institut – Mikrostrukturforschung (PGI-5): www.fz-juelich.de/pgi/pgi-5/DE/Home/home_node.html
    Peter Grünberg Institut – Elektronische Eigenschaften (PGI-6): www.fz-juelich.de/pgi/pgi-6/
    Peter Grünberg Institut – Halbleiter-Nanoelektronik (PGI-9): www.fz-juelich.de/pgi/pgi-9/DE/Home/home_node.html
    Arbeitsgruppe Prof. Markus Morgenstern an der RWTH Aachen, II. Physikalisches Institut B: www.institut2b.physik.rwth-aachen.de/
    Jülich Aachen Research Alliance, Sektion FIT (Fundamentals of Future Information Technology): www.jara.org/de/research/jara-fit/

    Ansprechpartner:
    Dr. Lukasz Plucinski, Forschungszentrum Jülich, Elektronische Eigenschaften (PGI-6), Tel. 02461 61-6684, E-Mail: l.plucinski@fz-juelich.de

    Prof. Dr. Detlev Grützmacher, Forschungszentrum Jülich, Halbleiter-Nanoelektronik (PGI-9), Tel. 02461 61-2340, E-Mail: d.gruetzmacher@fz-juelich.de
    Dr. Gustav Bihlmayer, Forschungszentrum Jülich, Quanten-Theorie der Materialien (PGI-1), Tel. 02461 61-4677, E-Mail: g.bihlmayer@fz-juelich.de
    Prof. Dr. Markus Morgenstern, RWTH Aachen, II. Physikalisches Institut B, Tel. 0241 80-27076, E-Mail: mmorgens@physik.rwth-aachen.de

    Pressekontakt:
    Angela Wenzik, Wissenschaftsjournalistin, Forschungszentrum Jülich,
    Tel. 02461 61-6048, E-Mail: a.wenzik@fz-juelich.de


    Weitere Informationen:

    http://www.fz-juelich.de/SharedDocs/Pressemitteilungen/UK/DE/2015/15-11-17schich...


    Bilder

    Durch Variation der Schichtdicke von Halbleiter-Sandwiches aus Silizium, einem n-Halbleiter, und einem p-Halbleiter, lassen sich topologische Isolatoren maßschneidern.
    Durch Variation der Schichtdicke von Halbleiter-Sandwiches aus Silizium, einem n-Halbleiter, und ein ...
    Copyright: Forschungszentrum Jülich
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    Ein mathematischer Kniff – eine Abbildung der Energieniveaus der Oberflächenelektronen im reziproken Raum – zeigt den Bereich maximaler Energieeffizienz an.
    Ein mathematischer Kniff – eine Abbildung der Energieniveaus der Oberflächenelektronen im reziproken ...
    Copyright: Forschungszentrum Jülich
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    Merkmale dieser Pressemitteilung:
    Journalisten, Wissenschaftler, jedermann
    Elektrotechnik, Energie, Informationstechnik, Physik / Astronomie, Werkstoffwissenschaften
    überregional
    Buntes aus der Wissenschaft, Wissenschaftliche Publikationen
    Deutsch


     

    Durch Variation der Schichtdicke von Halbleiter-Sandwiches aus Silizium, einem n-Halbleiter, und einem p-Halbleiter, lassen sich topologische Isolatoren maßschneidern.


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    Ein mathematischer Kniff – eine Abbildung der Energieniveaus der Oberflächenelektronen im reziproken Raum – zeigt den Bereich maximaler Energieeffizienz an.


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