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Nachrichten, Termine, Experten
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Die Fortbildung „Einführung in die modernen Methoden der Gefügeanalyse“ in Saarbrücken steht unter der fachlichen Leitung von Univ.-Prof. Dr.-Ing. Frank Mücklich, Lehrstuhl für Funktionswerkstoffe an der Universität des Saarlandes sowie Leiter des Material Engineering
Center Saarland (MECS) in Saarbrücken
Das Gefüge, d.h. die Mikro- und Nanostruktur bestimmt die auftretenden Defekte und die Eigenschaften eines Werkstoffes. Daher liegt für alle Hersteller und Verarbeiter der Hauptfokus auf der Steuerung und Qualitätskontrolle der Gefügeausbildung eines Werkstoffes in immer engeren Toleranzgrenzen. Die quantitative Gefügeanalyse ist dafür als Kontrollinstrument unverzichtbar. Neben dem Routineeinsatz der Lichtmikroskopie ist eine entscheidende Entwicklung auf diesem Gebiet die Kombination der etablierten Kontraste der Rasterelektronenmikroskopie (REM) mit dem fokussierten Ionenstrahl (FIB). Diese ermöglicht eine extrem sensitive Analyse bei gleichzeitig genauer Zielpräparation.
Die Fortbildung beginnt mit einer kurzen Einführung in die Grundlagen der digitalen Bildanalyse in 2D und deren sinnvolle Übertragung in 3D-Informationen. Behandelt wird das REM und TEM mit allen relevanten Kontrastverfahren sowie die FIB-Technik. Die Gefügetomographie zur chemischen und strukturellen 3D-Analyse in Mikro-, Nano- und atomaren Dimensionen, wie Serienschnitte und REM/FIB-Tomographie sowie die Atomsondentomographie werden praxisorientiert und am Gerät verdeutlicht. Abgerundet wird die Fortbildung durch Vorträge von Experten zu den Möglichkeiten der angrenzenden Techniken wie Nano-SIMS und Röntgen-Computer-Tomographie.
Diese Fortbildung richtet sich an alle Anwender der Gefügeanalyse in Qualitätskontrolle und Werkstoffentwicklung. Vorausgesetzt werden Grundkenntnisse der Werkstoffkunde. Alle methodischen Grundlagen der Gefügeanalyse werden erarbeitet und praxisorientiert vermittelt
Option 1 (25.03.2019 - gesonderte Anmeldung erforderlich):
Für Teilnehmer, die keinerlei Erfahrung am Elektronenmikroskopie und Focused Ion Beam haben, bieten wir am Vortag eine praktische Einführung am Mikroskop an. Vermittelt wird der allgemeine Umgang und Basiswissen zur Arbeit am Elektronen-/Ionenmikroskop.
Option 2 (28.03.2019 - gesonderte Anmeldung erforderlich):
Individuelle Probenberatung und -Untersuchung:Gerne können eigene Proben mitgebracht und als optionaler Teil der Fortbildungam dritten Tag mit Experten-Unterstützung am REM/FIB untersucht werden.
Weitere Informationen zu den Inhalten dieser Fortbildung finden Sie unter dem Link: http://www.dgm.de/1523
Fragen & Kontakt
Sie haben Fragen zur Veranstaltung? Gerne beantworten wir diese auch persönlich.
Rufen Sie uns einfach an oder senden Sie uns eine E-Mail.
Tel.: +49-(0)69-75306 757
Fax: +49-(0)69-75306 733
E-Mail: fortbildung@dgm.de
Programm
Merkmale dieser Pressemitteilung:
Studierende, Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler
Bauwesen / Architektur, Elektrotechnik, Maschinenbau, Verkehr / Transport, Werkstoffwissenschaften
überregional
Buntes aus der Wissenschaft, wissenschaftliche Weiterbildung
Deutsch
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