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12.09.2005 10:25

Mehr als 400 Optikexperten aus aller Welt an der Jenaer Universität

Dr. Brigitte Weber Abteilung Hochschulkommunikation/Bereich Presse und Information
Friedrich-Schiller-Universität Jena

    SPIE Symposium Optical Systems Design 2005 vom 12.-16. September in Jena

    Gemeinsame Pressemitteilung des Fraunhofer-Instituts für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF sowie der Friedrich-Schiller-Universität Jena

    (Jena) Vom 12. bis 16. September treffen sich über 400 Wissenschaftler aus aller Welt an der Friedrich-Schiller-Universität Jena, um Forschungsergebnisse auf dem Gebiet des Designs optischer Systeme zu präsentieren. Veranstalter des 5. Symposiums Optical Systems Design ist die SPIE - The International Society for Optical Engineering (Internationale Gesellschaft für Optik) gemeinsam mit der Friedrich-Schiller-Universität Jena und dem Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF.

    Das Symposium findet zum ersten Mal in Jena statt. "Jena ist einer der weltweit führenden Standorte für Optik" erklärt Prof. Dr. Andreas Tünnermann, Vorsitzender des Symposiums. "In der Region Jena gibt es eine starke Konzentration von Universitäten, Fachhochschulen und Forschungsinstituten mit herausragendem Forschungs- und Fertigungspotential auf dem Gebiet der Optik. Über 8.800 Beschäftigte auf dem Gebiet der optischen Technologien in der Industrie erwirtschaften einen Umsatz von über 1.800 Mio. Euro pro Jahr", so der Leiter des Fraunhofer IOF und des Instituts für Angewandte Optik der Universität weiter. Damit erklärt sich auch die große Zahl an Experten aus Jenaer Unternehmen und Forschungseinrichtungen, die am Symposium teilnehmen und ihre Ergebnisse präsentieren. Norbert Thiel, Vorstand der Jenoptik AG hält den Plenarvortrag zur Eröffnung mit dem Titel "Jena, Stadt der Optik: gestern - heute - morgen."

    Wissenschaft und Wirtschaft in Jena

    Das Symposium besteht aus vier Konferenzen mit den Themenbereichen "Optikdesign und Systemintegration", "Neuentwicklungen auf dem Gebiet optischer Schichten", "Detektoren und optische Signalverarbeitung" sowie "Optikfertigung, Prüfung und Messtechnik". Begleitet wird die Konferenz durch eine Firmenausstellung im Foyer des Universitätscampus.

    Ein Blick in das Programm zeigt die vielfältigen Einsatzgebiete optischer Systeme von der traditionell in Jena beheimateten Mikroskopie über Information und Kommunikation, Sicherheit und Prozesskontrolle bis zu Weltraumanwendungen, die ständig neue Herausforderungen an Designer und Hersteller in Forschung und Industrie darstellen.

    Projektionseinheit im Streichholzschachtelformat

    Wissenschaftler des Fraunhofer IOF stellen zum Beispiel ein Projektionssystem vor, das mit organischen Leuchtdioden, so genannten OLED's, als Lichtquellen arbeitet. "Die Projektionseinheit ist nur etwa so groß wie eine Streichholzschachtel. Mit der OLED-Technologie ist eine stärkere Miniaturisierung möglich als mit bisheriger Technik", so Dr. Stefan Riehemann. Die mit dieser Projektionseinheit realisierten Messsysteme ermöglichen das optische Vermessen von Oberflächen und Mikrostrukturen und können zum Beispiel in der In-Line Qualitätskontrolle eingesetzt werden.

    Für die präzise Materialbearbeitung mit Hilfe von Laserstrahlen wurde eine spezielle Optik für die Fokussierung ultrakurzer Laserimpulse entwickelt. Bisher wurde dies meist mit Mikroskopobjektiven gemacht, die jedoch die Pulsdauer wesentlich verlängern können. Die neue Optik umgeht diesen Nachteil. Sie ermöglicht das Laser-Bohren sehr kleiner und präziser Löcher, z. B. in einer Einspritzdüse eines Dieselmotors oder in einer Druckerpatrone, durch die die Tinte auf das Papier gelangt.

    Mit mehr als 300 Beiträgen bietet die Konferenz ausgezeichnete Möglichkeiten für Techniker, Ingenieure und Wissenschaftler sich über neueste Entwicklungen auf dem Gebiet des Designs optischer Systeme zu informieren und auszutauschen.

    Ansprechpartner:
    Dr. Brigitte Weber
    Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF
    Tel.: 03641 / 807 440 oder 0160 / 8865908
    E-Mail: brigitte.weber@iof.fraunhofer.de


    Weitere Informationen:

    http://spie.org/conferences/programs/05/eod/


    Bilder

    Merkmale dieser Pressemitteilung:
    Mathematik, Physik / Astronomie
    überregional
    Buntes aus der Wissenschaft, Wissenschaftliche Tagungen
    Deutsch


     

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