idw - Informationsdienst
Wissenschaft
Neue Infrarot-Kamera für die Fachhochschule Jena
(07. September 2007) Im April dieses Jahres hatten sich die Professoren Denner (Fachbereich Maschinenbau), Bliedtner (Fachbereich SciTec), Hofmann (Fachbereich Grundlagenwissenschaften) und Redlich (Elektrotechnik/Informationstechnik) der Fachhochschule Jena mit einem gemeinsamen Antrag um Mittel aus dem Rektorfonds beworben, um eine Infrarotkamera modernster Bauart zu erwerben und gemeinsam zu nutzen. Die hohen Kosten für eine solche Anschaffung sind nicht separat von einem Fachbereich oder einem Forschungsvorhaben zu tragen und fordern geradezu ein breites interdisziplinäres Zusammengehen. Die Leitung der Fachhochschule Jena stimmte dem Antrag zu und stellte die erforderlichen Mittel bereit.
Am 07. September 2007 erfolgte die symbolische Übergabe des Gerätesystems an die Rektorin der FH Jena Prof. Dr. Gabriele Beibst und an die beteiligten Professoren durch Herrn Dr. Krauß, Geschäftsführender Gesellschafter der Dresdener Firma Infratec und Herrn Steffen Schmidt von der Jenoptik LOS Jena. Das know how zur effektiven Nutzung des Gerätes in Lehre und Forschung ist in der FH Jena bereits vorhanden. Im Fachbereich Grundlagenwissenschaften sind derzeit eine IR-Kamera (kurzwelliger IR-Spektralbereich, Baujahr 1996) der Fa. Jenoptik und im Fachbereich Elektrotechnik/Informationstechnik eine auf spezielle Laboraufgaben gerichtete langwellige IR-Kamera der Fa. FLIR (USA) Baujahr 1998 für den Vorlesungsbetrieb, für Praktika und für Aufgaben in Forschung und Entwicklung im Einsatz.
Die Entscheidung fiel zu Gunsten des Systems VarioCam der Firma Jenoptik. Dies hat auch Symbolkraft, da die FH Jena das nächste Jahrzehnt mit einem Hightech-Messmittel des Produktionsstandortes Jena auftreten wird. Zu den vorgesehenen Aufgaben in den einzelnen Fachgebieten gehören unter anderem die Temperaturmessung bei der Laserbearbeitung und Lasertrennung von Material im Fachbereich SciTec in Kooperation mit dem IFW Jena; die Temperaturmessung von Gehäusen, Baugruppen und Schaltkreisen im Fachbereich Elektrotechnik/Informationstechnik in Kooperation mit der CZ MicroImaging Jena, LEG Jena, Mazet Jena und HITK Hermsdorf sowie die Entwicklung von IR-Zusatzausrüstungen, Messmethoden im Fachbereich Grundlagenwissenschaften und deren Erprobung in der Kunststoff-, Glas- und Metallindustrie. Weiterhin findet die neue Kamera ihren Einsatz im Fachbereich Maschinenbau der FH Jena für die hochauflösende Thermographie von Temperaturverteilungen im Zusammenhang mit der Entwicklung von effektiven Wärmeüberträgern.
Das Thermografiesystem VarioCAM® high resolution wird von der Jenaer Firma JENOPTIK Laser, Optik, Systeme GmbH produziert und basiert auf neuester ungekühlter Mikrobolometer-Detektor-Technologie. Es zeichnet sich besonders durch gute messtechnische Eigenschaften aus. In Kombination mit der optomechanischen Resolution-Enhancement-Funktion werden Bildformate mit bisher unerreichter geometrischer Auflösung von bis zu 1,23 Megapixel erzielt. Mit der Funktion Nahfokussierung, die durch kamerainterne motorische Verschiebung des Detektors zur Infrarotoptik realisiert wird, gelingt es bereits mit der Standardoptik, Makroaufnahmen von Leiterplatten mit einer Pixelgröße von bis zu 125 µm zu erstellen. Schnelle Infrarotsequenzen können mit bis zu 60 Hz im internen Kamera-Echtzeitspeicher oder über das Echtzeit-FireWire-Interface direkt auf einen Steuerrechner gespeichert werden.
Kontakt: Prof. Dr. Hofmann
otto.hofmann@fh-jena.de
von links: Prof. Dr. Wolf Denner (FH Jena), Steffen Schmidt (Jenoptik LOS Jena), Prof. Dr. Otto Hof ...
Foto: Neef
None
Merkmale dieser Pressemitteilung:
Elektrotechnik, Energie, Informationstechnik, Maschinenbau, Werkstoffwissenschaften, Wirtschaft
überregional
Forschungs- / Wissenstransfer, Organisatorisches
Deutsch
Sie können Suchbegriffe mit und, oder und / oder nicht verknüpfen, z. B. Philo nicht logie.
Verknüpfungen können Sie mit Klammern voneinander trennen, z. B. (Philo nicht logie) oder (Psycho und logie).
Zusammenhängende Worte werden als Wortgruppe gesucht, wenn Sie sie in Anführungsstriche setzen, z. B. „Bundesrepublik Deutschland“.
Die Erweiterte Suche können Sie auch nutzen, ohne Suchbegriffe einzugeben. Sie orientiert sich dann an den Kriterien, die Sie ausgewählt haben (z. B. nach dem Land oder dem Sachgebiet).
Haben Sie in einer Kategorie kein Kriterium ausgewählt, wird die gesamte Kategorie durchsucht (z.B. alle Sachgebiete oder alle Länder).