idw – Informationsdienst Wissenschaft
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Die PATINFO der TU Ilmenau bietet traditionell einen kompakten jährlichen Überblick über neueste Entwicklungen des gewerblichen Rechtsschutzes, der Patentinformation sowie der Be- und Verwertung von Patenten. Das entstehende Kompetenzprofil für Patentmanager wird damit unterstützt.
Auf der PATINFO 2006 verdeutlichen die Beiträge des Europäischen Patentamtes, des europäischen Harmonisierungsamtes, des Deutschen Patent- und Markenamtes, des Bundespatentgerichts und des Russischen Patentamtes sowohl die Tendenzen des gewerblichen Rechtsschutzes als auch die Informationsleistungen dieser Ämter.
Im Mittelpunkt dieser Informationsleistungen stehen nutzerfreundliche Datenbanken zur kostenfreien Nutzung sowie die Rohdatenlieferung als Basis für Mehrwertdienste.
Die führenden Datenbankproduzenten stellen in Präsentationen und in der Ausstellung vor allem Mehrwehrdienste vor. Wesentliche Komponenten der Mehrwehrdienste sind verbesserte Inhaltserschließungsmethoden, neue Recherchemöglichkeiten und hochwertige Analysewerkzeuge.
Die Industrievertreter konkretisieren ihre Anforderungen an die Qualität der Schutzrechte als Basis ihrer Informationstätigkeit und sie beschreiben ihre Methoden bei der Nutzung des quantitativ und qualitativ wachsenden Informationsangebots.
Auch wenn im Mittelpunkt der Konferenz das Patent einschließlich seiner Be- und Verwertung steht, das Gebrauchsmuster, die Marke und das Geschmacksmuster werden gebührend berücksichtigt.
Donnerstag, den 18. Mai 2006
13.00 Uhr
Begrüßung
Peter Scharff, Rektor der Technischen Universität Ilmenau
Die strategischen Ziele des Deutschen Patent- und Markenamtes
Jürgen Schade, Präsident des Deutschen Patent- und Markenamtes, München
Patentgerichtsentscheidungen und ihre Recherche
Bernd Tödte, Vizepräsident des Bundespatentgerichts, München
Kompetenzprofil für Patentmanager - ein Modellkonzept
Ursula Georgy, Marc Rittberger, Fachhochschule Köln, Köln; DIPF, Frankfurt a. M.
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14.40 Uhr Kaffeepause
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15.10 Uhr
Aktuelle Entwicklung des Gebrauchsmusters
Edwin Müllner, Bundespatentgericht, München
Qualität der Patentanmeldungen: Klasse statt Masse
Minoo Philipp - Präsidentin der PDG, Henkel KGaA, Düsseldorf
Markenanmeldung aus der Sicht eines recherchierenden Prüfers
Astrid Graul, Deutsches Patent- und Markenamt, Jena
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16.30 Uhr Kaffeepause
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17.00 Uhr
Open Patent Services aus Industriesicht
Peter Kallas, BASF AG, Ludwigshafen
17.50 Uhr
Auswirkungen der IPC-Reform auf die Patentrecherche
Christiane Emmerich, Fachinformationszentrum Karlsruhe, Karlsruhe
20.00 Uhr Thüringer Büfett in der Festhalle
Freitag, den 19. Mai 2006
9.00 Uhr
Neue Informationstechnologien im Bereich Gemeinschaftsmarke und Gemeinschaftsgeschmacksmuster
Susy Scardocchia, Harmonisierungsamt für den Binnenmarkt, Alicante
Qualitätserhöhung der Markenrecherche und Markenüberwachung
Caterina Dauvergne, QuesteloOrbit, Paris
Optimierung der Geschmacksmusterinformation im Unternehmen:
von Papier zur Datenbank*
Humberto Montenegro, Henkel KGaA, Düsseldorf
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10.15 Uhr Kaffeepause
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10.45 Uhr
Auswirkungen von Besonderheiten der Patenterteilungsverfahren in den USA, Japan und ausgewählten EPÜ-Ländern auf die Patentrecherche
Peter Paris, Europäisches Patentamt, Wien
Patentrecherche in interdisziplinären Gebieten
Manfred Scheu, Europäisches Patentamt, Den Haag
Nichtpatentliteratur in der Neuheitsrecherche: Fakten und Zahlen
Paul Schwander, Europäisches Patentamt, Den Haag
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12.00 Uhr Mittagspause
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13.00 Uhr
Kostenfreie Internet-Datenbanken für chinesische, japanische und koreanische Patentdokumente
Irene Schellner, Europäisches Patentamt, Wien
Kostenfreie und kommerzielle Internetdienstleistungen des Russischen Patentamtes
Boris Genin, Victor Belaev, Russisches Patentamt, Moskau
Neuartige Volltextrecherche, Japanische-F-Term-Recherche und PatBase Express - ein neues Interface für Endnutzer
Jochen Lennhof, Minesoft, London
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14.40 Uhr Kaffeepause
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15.10 Uhr
Das interaktive Analyse- und Visualisierungstool STNAnaVist
Claus-Dieter Siems, Elke Thomä, Fachinformationszentrum Karlsruhe, Karlsruhe; TU Ilmenau / PATON, Ilmenau
Patentbewertung und Patentanalysen - Zweck, Adressaten, Kontext, Methoden und Technik
Wolfgang Runge, Independent Scientist and Consultant, Rastatt
IPscore - ein Instrument zur Patentbewertung
Poul-Erik Nielsen, Dänisches Patent- und Markenamt, Kopenhagen
Methoden der Patentverwertung
N.N.
Technologie Allianz, ....
16.50 Uhr Ende der Veranstaltung
Zusatzangebot: PATON-Besichtigung
Freitag, 19. Mai 2006
10.30 Uhr Autobus-Abfahrt vor der Festhalle
11.30 Uhr Autobus-Rückfahrt ab PATON
Noch in Abstimmung befindliche Vorträge:
PCT-Anmeldungen mit PCT-SAFE: Vorteile der WIPO-Software
Hans Leise, WIPO, Genf
Patentinformationsleistungen für Hochtechnologien
Meir Noam, Präsident des Israelischen Patentamts, Jerusalem
Leistungsprofil regionaler Patentzentren / Patentanalyse mittels PATONanalist
N.N. TU Ilmenau / PATON, Ilmenau
http://www.tu-ilmenau.de/site/paton/Veranstaltungen.835.0.html
Merkmale dieser Pressemitteilung:
Politik, Recht, Wirtschaft
überregional
Buntes aus der Wissenschaft, Forschungs- / Wissenstransfer, Wissenschaftliche Tagungen
Deutsch
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