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Wissenschaft
13.05.2004 - 13.05.2004 | Köln
Zielgruppe: Erfahrene Nutzer der STN-Patentdatenbanken
Inhalte: Der Kurs vermittelt Ihnen Instrumente zur Nutzung von Patentstatistiken für Wettbewerbs- und Marktanalysen, Beobachtung von FuE-Trends, Analyse von Technologiepositionen und -feldern, jeweils in quantitativer, qualitativer und zeitlich-dynamischer Hinsicht. Weiter lernen Sie die praxisgerechte Aufbereitung von Rechercheergebnissen in aussagefähige Charts und Plots.
Hinweise zur Teilnahme:
Termin:
13.05.2004 ab 09:00
Veranstaltungsort:
STN-Beratungszentrum Köln
Mathias-Brüggen-Str. 87-89
50829 Köln
Nordrhein-Westfalen
Deutschland
Zielgruppe:
Wirtschaftsvertreter, Wissenschaftler
E-Mail-Adresse:
Relevanz:
überregional
Sachgebiete:
Wirtschaft
Arten:
Eintrag:
21.01.2004
Absender:
Rüdiger Mack
Abteilung:
Marketingkommunikation
Veranstaltung ist kostenlos:
unbekannt
Textsprache:
Deutsch
URL dieser Veranstaltung: http://idw-online.de/de/event10348
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